大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。
以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎， 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實例， 為許多廠家在研究開發、生產部門所使用。并且在光源?照明 相關方面，對各個廠家的銷售量在逐步擴大。
在中國的蘇州有設立售后服務點，為了能迅速且周到的為顧客服務而努力。
我公司的母公司日本大塚電子集團，隸屬于大冢集團， 一直以來都謹守大冢集團 的企業理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢 為人類的健康創造革新的產品)， 為社會作出貢獻。
即時檢測
WAFER基板于研磨制程中的膜厚
玻璃基板于減薄制程中的厚度變化
(強酸環境中)
產品特色
非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測
采用分光干涉法實現高度檢測再現性
可進行高速的即時研磨檢測
可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測
可對應長工作距離、且容易安裝于產線或者設備中
體積小、省空間、設備安裝簡易
可對應線上檢測的外部信號觸發需求
采用膜厚檢測的獨自解析演算法。(已取得)
可自動進行膜厚分布制圖(選配項目)
規格式樣
SF-3 | |
|---|---|
膜厚測量范圍 | 0.1 μm ~ 1600 μm※1 |
膜厚精度 | ±0.1% 以下 |
重復精度 | 0.001% 以下 |
測量時間 | 10msec 以下 |
測量光源 | 半導體光源 |
測量口徑 | Φ27μm※2 |
WD | 3 mm ~ 200 mm |
測量時間 | 10msec 以下 |
※1 隨光譜儀種類不同,厚度測量范圍不同
※2 最小Φ6μm
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 機床激光干涉檢測儀 | ￥280000 | 深圳市 | 深圳市中圖儀器股份有限公司 | 2025-04-28 | 在線詢價 |
| 機床導軌激光干涉測量儀 | ￥280000 | 深圳市 | 深圳市中圖儀器股份有限公司 | 2025-04-17 | 在線詢價 |
| 高精度激光干涉儀測量設備 | ￥280000 | 深圳市 | 深圳市中圖儀器股份有限公司 | 2025-03-24 | 在線詢價 |
| 0.05ppm機床激光干涉儀 | ￥280000 | 深圳市 | 深圳市中圖儀器股份有限公司 | 2025-03-10 | 在線詢價 |
| 機床激光干涉測量校準儀 | ￥280000 | 深圳市 | 深圳市中圖儀器股份有限公司 | 2025-03-10 | 在線詢價 |
| 激光干涉儀測量雙直線導軌安裝平行度 | ￥280000 | 深圳市 | 深圳市中圖儀器股份有限公司 | 2025-03-10 | 在線詢價 |
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