商品詳情
產(chǎn)品介紹:
的納米領(lǐng)域研究利器。*的三軸分離設(shè)計(jì)，既保證了XYZ三個(gè)方向無耦合效應(yīng)，從原理上消除了平面扭曲誤差；同時(shí)獨(dú)立的Z軸掃描器，實(shí)現(xiàn)了真正的非接觸式掃描，極大地?cái)U(kuò)展了樣品適用范圍。自上而下的直視光路，方便用戶對(duì)探針和樣品的觀察，專門設(shè)計(jì)的探針安裝方式，簡(jiǎn)化了光路調(diào)整過程，降低了操作難度。
產(chǎn)品特點(diǎn):
精確的XY方向掃描，*消除了交叉耦合誤差
獨(dú)立的閉環(huán)XY平板式掃描器和Z軸掃描器
全掃描范圍水平線性誤差小于2nm
精確的高度測(cè)量
真正的非接觸掃描莫使延長(zhǎng)了探針壽命，保證了高分辨率，保護(hù)了樣品
Z軸伺服速度相比管式掃描器提高了10倍
非接觸模式降低了探針磨損，延長(zhǎng)了探針壽命
成像分辨率由于同類原子力顯微鏡
增強(qiáng)了樣品兼容性，提高了掃描精度
的功能拓展方案
支持多種SPM模式
多種可選配測(cè)量模式
多種可選配件，的拓展性
便利的操作設(shè)計(jì)
開放式樣品空間，樣品及探針更換極為方便
預(yù)對(duì)準(zhǔn)探針安裝與同軸光路設(shè)計(jì)方便激光調(diào)整
燕尾鎖設(shè)計(jì)方便掃描頭拆卸
產(chǎn)品圖片
所有商品圖片均由廠家提供；請(qǐng)以收到的實(shí)物為準(zhǔn)！
規(guī)格參數(shù)
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