產品參數
產品編號: 清潔度分析系統BH-CIA880所屬品牌: BAHENS產品型號: BH-CIA500 額定功率：按實際方案提供所屬類別: 清潔度分析系統所屬用途: ISO16232應用領域:產品特性: 清潔度分析系統BH-CIA880按照各種國內及國際標準：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等，以及客戶自定義的標準，自動生成專 業的清潔度評級和分析報告。下載相關資料-
清潔度分析系統BH-CIA880
顯微鏡
BAHENS光學顯微鏡（ISO16232規定），放大50倍-500倍，既可做清潔度檢測。
檢測內容
? 雜質平面尺寸
? 雜質高度
? 雜質數量
? 雜質形狀分類：顆粒或纖維
? 雜質性質分類：反光（金屬），亞光（非金屬，金屬氧化物）
多種自動聚焦算法
? 支持多種聚焦模式：補償聚焦、跟 蹤聚焦、手動聚焦、EFI聚焦等。
? 采用的聚焦算法，保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像；
? 新精 確模式可以輕松辨認原本會產生誤判的亞光色金屬顆粒（綠色包圍部分），用偏振光照射，記錄在兩個情況下進行比較，然后用于準確區分金屬和非金屬顆粒。
最 小顆粒分辨率
? 目鏡：大視場雙目觀察，觀察視域大而舒 適。
放大倍數10倍，視場指數22毫米，三目鏡筒55-75mm可調瞳距。
? 物鏡：高性能高反差平場物鏡，鍍膜防霉。
5X，10X，20X,50X
統計與分析
? 系統自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統計顆粒參數。同時支持修改顆粒。
? 提供多種統計分析工具：MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等；
? 支持模板化報告生成模式，包含統計數據、評級、濾片全貌圖、顆粒照片等信息；
