美國CRAIC發布的20/30PV顯微光譜分析集成系統為紫外-可見-近紅外顯微光譜學設定了一個新的標準。使用技術的20/30 PV不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發或其他光源類型下的光譜，還同時提供了數字成像功能。美國CRAIC 20/30 顯微分光光度計系統，結合了顯微學和光譜學的優勢，用于微小樣品或樣品的微小區域的光譜分析；微區光譜測試的范圍從深紫外到近紅外，同時也提供全波段的成像。具備*的光譜及圖像分析軟件、自動化的參數設置、簡單易用、能長時間穩定工作等優良特性。20/30 PV是微區科研以及實驗室樣品分析的工具。

    CRAIC 20/30 PV集成了紫外－可見－近紅外光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統于一身，根據產品不同，可以做紫外可見近紅外（200-2500nm）的光譜分析，還可以集成顯微Raman系統，同時科研級光譜儀和高分辨彩色數字成像系統都使用了的顯微鏡光路系統及科研級光學接口。

     高靈敏度的固態陣列檢測器件使用了熱電制冷的方式提高了器件的信噪比，增強穩定性,并保證設備能長時間穩定地工作；高分辨率的數字成像系統在用于紫外、近紅外以及可見光波段的彩色成像。多種類型的光源包提供了從深紫外到近紅外的光源，類型包括透射光、反射光、熒光等，偏振光和拉曼激光也可以根據用戶需求提供。CRAIC精巧的軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數字成像系統，還同時提供了*分析功能，甚至包括薄膜厚度測量及色度測量。CRAIC公司推出的操作系統，應用軟件使用簡單，操作方便。

  20/30PV系列為顯微觀測、材料科學、地質科學、生物科學及制藥、表面等離子共振，法醫痕跡鑒證，石墨烯及納米管等領域提供的顯微光譜分析方案，20/30 PV是顯微分光光度計的代表。

主要技術參數

微區光譜范圍：200-2500nm

最小取樣面積：≤1um2

熒光光譜范圍：300-1000nm

高分辨率成像：深紫外-近紅外

光譜分辨率：1-15nm(可選）

探測器類型：CCD和InGaAs陣列

制冷;TE制冷

全譜掃描時間：≤14ms

可編程平臺帶光譜繪圖：可實現

全自動控制：可實現

操作系統：Win7 Pro或Win 8