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原理
波長法是因其激發出的熒光足夠強,進到儀器中用來分析的光譜是單一元素(“過濾”了不需測的元素),不含其它元素的光譜,所以測量數據很準確。這種儀器的靈敏度比能量色散型高一個數量級,也就是說,所測的數據并不存在“灰色地域”,不存在測定后還需拿到檢測機構復檢。缺點是,波長法需將被測材料粉碎壓制成樣本后測才準確。所以,用在材料廠。如不制成樣本(非破壞),會因材料表面形狀不同而產生不同誤差。儀器操作也不需要專業人員。
應用
物質成分分析 ①定性和半定量分析具有譜線簡單、不破壞樣品、基體的吸收和增強效應較易克服、操作簡便、測定迅速等優點,較適合于作野外和現場分析,而且一般使用便攜式X射線熒光分析儀,即可達到目的。如在室內使用X射線能譜儀,則可一次在熒光屏上顯示出全譜,對物質的主次成分一目了然,有其獨到之處。
② 定量分析可分為兩類,即實驗校正法(或稱標準工作曲線法)和數學校正法。它們都是以分析元素的 X射線熒光(標識線)強度與含量具有一定的定量關系為基礎的。70年代以前,數學校正法發展較慢,主要用于一些組成比較簡單的物料方面;大量采用的是實驗校正法。其中常用的有外標法、內標法、散射線標準法、增量法、質量衰減系數測定法和發射-吸收法等。70年代以后,隨著X射線熒光分光譜法分析理論和方法的深入發展,以及儀器自動化和計算機化程度的迅速提高,人們普遍采用數學校正法。其中主要包括經驗系數法、基本參數法和經驗系數與基本參數聯用法等。應用這些方法于各種不同分析對象,可有效地計算和校正由于基體的吸收和增強效應對分析結果的影響。對于譜線干擾和計數死時間,也可以得到有效的校正。這些方法除基本參數法外,一般都比較迅速、方便,而且準確度更高。在許多領域中,無論是少量或常量元素分析,其結果足與經典的化學分析法媲美,因而在常規分析中,X射線熒光分析法和原子吸收光譜法、等離子體光譜分析法一起,并列為儀器分析的主要手段。