半導體技術,自60年代起步,1965年集成回路(1C)誕生后一路飛躍,閃存、表面實裝封裝等技術頻現,高密度LSI蓬勃發展。半導體技術至關重要,也迎來新需求,新的生產測試挑戰;導通電阻評價系統助力半導體試驗設備研發芯片,為監控老化系統精準監測,讓計測系統實現高精度測量。家電、手機到電動汽車,再到通信、醫療等領域。
AMR測試方法是聯動冷熱沖擊或者快溫變試驗箱進行評價,在冷熱沖擊的高應力環境下,對基板接合部分或者材料的導通性能評價。
變化率(%)判定
此判定針對BGA以及CSP等封裝元器件的微小阻值變化的判定方法。以指定的測試數據為基準,比較高溫側/低溫側的數據變化百分比進行判定失效與否。
勤達(深圳)數碼科技有限公司簡稱(勤達科技)是一家積極推動技術應用的科技公司,自2004年成立以來,致力于引進國外科技軟件、設備和技術。
勤達不斷地自我提升,為客戶提供可靠性工程技術培訓、技術交流會議、技術A顧問服務等多元化、多層次、的高增值服務,與客戶互動、合作,共同推動著我國可靠性行業的發展。