手持式測(cè)厚儀 OXFORD-563
牛津儀器OXFORD-563表面銅厚測(cè)量，剛性及柔性，單層，雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。
優(yōu)勢(shì)：
1. OXFORD-563采用微電阻測(cè)試技術(shù)，提供了測(cè)試表面銅厚度（包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板）的方法。由于采用了目前市場(chǎng)上為的測(cè)試技術(shù)，無論絕緣板層多厚，印刷電路板背面銅層不會(huì)對(duì)可信的測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。
2. 創(chuàng)的銅箔測(cè)厚儀配置探針可由用戶自行更換的SRP-4探頭。相對(duì)于整個(gè)探頭的更換，更換探針更為方便和經(jīng)濟(jì)。OXFORD-563可由用戶選擇測(cè)試的銅箔類型，即化學(xué)銅或電鍍銅；甚至無需用戶校準(zhǔn)，即可測(cè)量線形銅箔度。NIST(美國標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會(huì)）的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片有不同厚度可供選擇。高品質(zhì)的
測(cè)試技術(shù)：
1. 微電阻測(cè)試技術(shù)利用四根接觸式探針在表面銅箔上產(chǎn)生電信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。SRP-4探頭采用四根設(shè)計(jì)、堅(jiān)韌耐用的探針（牛津儀器產(chǎn)品）以保證高度、小接觸面積和小的測(cè)量表面印痕。
2. 探針可通過透明材質(zhì)的外殼看到，使客戶能夠地定位測(cè)試位置。探針采用高耐用性的合金以抵抗折斷和磨損。當(dāng)探頭接觸銅箔樣品時(shí)，恒定電流通過外側(cè)兩根探針，而內(nèi)側(cè)兩根探針測(cè)得該電壓的變化值。根據(jù)歐姆定律，電壓值被轉(zhuǎn)換為電阻值，利用一定的函數(shù)，計(jì)算出厚度值。
3. 微電阻測(cè)試技術(shù)為銅箔應(yīng)用提供了高準(zhǔn)確度的銅厚測(cè)量。
探頭特點(diǎn)：
1. 系繩式的SRP-4探頭采用結(jié)識(shí)耐用的連接線以用于現(xiàn)場(chǎng)操作。另外，SRP-4探頭的小覆蓋區(qū)令使用更為方便友好。
2. SRP-4探頭采用可用戶替換式探針模塊。耗損的探針能在現(xiàn)場(chǎng)迅速、簡便地?fù)Q,將停機(jī)時(shí)間縮至短。更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟(jì)。 OXFORD-563的標(biāo)準(zhǔn)配置中包含一個(gè)替換用探針模塊。另行訂購的探針模塊以三個(gè)為一組。
產(chǎn)品功能：
接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī) |
顯示：4數(shù)位LCD液晶顯示，2數(shù)位存儲(chǔ)位置，字符高1/2英寸（12.7mm） |
統(tǒng)計(jì)：存儲(chǔ)位置，測(cè)量個(gè)數(shù)，銅箔類型，線形銅線寬，測(cè)量日期/時(shí)間，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，方差百分比，準(zhǔn)確度，高值，低值，值域，CPK值，單個(gè)讀數(shù)，時(shí)間 戳，直方圖。 |
下載：通過一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)一個(gè)存儲(chǔ)位置內(nèi)有數(shù)據(jù)下載 |
存儲(chǔ)：13,500條讀數(shù) |
電池：9伏電池,65小時(shí)連續(xù)使用 |
單位：通過一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換 |
重量：0.26千克(包括電池) |
尺寸：149×79.4×30.2mm |
技術(shù)參數(shù): 測(cè)量范圍：
準(zhǔn)確度：±3%(±0.1µm)參考標(biāo)準(zhǔn)片 |
度： 化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2% 電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5% |
分辨率：0.1μｍ<> 0.01μｍ<> 0.001μｍ<> |
化學(xué)銅： 0.25 - 12.7μｍ |
電鍍銅： 2.5 - 152μｍ |
線形銅線寬范圍： 203 - 6350μｍ |
牛津儀器OXFORD-563表面銅厚測(cè)量、 |
