MINITEST 720/730/740涂層測厚儀
SIDSP技術-新技術，智能數字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢
是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發的，的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內部數字信號處理，這項技術使探頭在測量時，同時在探頭內部將信號處理為數字形式。SIDSP探頭依據生產。
SIDSP工作原理？
跟傳統技術不同，SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號，回傳的信號經過32位數字轉換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項的數字處理技術，同時應用在現代通訊技術(手機網絡)方面，如數字濾波器，基帶轉換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理的信號質量和度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優勢，為涂層測厚設定了一個新的標準。
技術數據表
SIDSP探頭
探頭 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| 測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
| 測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
| 信號處理 | 探頭內部32位信號處理(SIDSP) | |||||
| 度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
| 重復性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| 小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| 小曲率半徑(凹，外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| 小曲率半徑(凹，內置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| 小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| 小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 連續模式下測量速度 | 每秒20個讀數 | |||||
| 單值模式下大測量速度 | 每分鐘70個讀數 | |||||
主機
型號 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
| 探頭類型 | 內置 | 外置 | 內置外置可換 |
| 數據記憶組數 | 10 | 10 | 100 |
| 存儲數據量 | 多10,000個 | 多10,000個 | 多100,000個 |
| 統計值 | 讀值個數，小值，大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值(標準設置/自由配置) | ||
| 校準程序符合國際標準和規范 | ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 | ||
| 校準模式 | 出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值 | ||
| 極限值監控 | 聲、光報警提示過極限 | ||
| 測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
| 操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
| 存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
| 數據接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | ||
| 電源 | 2節AA電池 | ||
| 標準 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
| 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
| 重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內置)/230g(外置) |
