日立掃描電子顯微鏡SU1510
產品介紹：
采用精巧化設計，比同類設備分辨率和配置相同情況下，體積縮減20%，節約空間，標配二次電子和背散射探測器，便于形貌和襯度的同時觀察，具有日立鎢燈絲電鏡通有的四偏壓、四孔光闌、高分辨背散射、長襯管等設計。
主機寬度僅為55cm，體型小巧，具有3.0nm分辨率的高性能可變壓力掃描電鏡。
日立掃描電子顯微鏡SU1510主要特點：
1、儀器主體比過去減小20%，可以更加自由地選擇安裝場地。
2、標配低真空功能，可以對不導電進行無噴涂觀察。高低真空轉換一鍵完成。
3、樣品臺可載入zui大直徑153mm，高度為60mm(WD=15mm)的樣品，并進行EDX分析。
4、強大的鼠標控制功能，可實現電鏡的所有操作。
5、分子泵真空系統，潔凈無污染。
技術參數 ：
二次電子分辨率 | 3.0nm（高真空，30kV） |
背散射電子分辨率 | 4.0nm（低真空：60Pa，30kV） |
倍率 | 5 ~ 300,000倍 |
加速電壓 | 0.3~30 kV |
樣品臺 | X 0~80mm Y 0~40mm Z 5~50mm T -20~80mm R 360° |
樣平臺控制 | 手動（可選：2軸馬達） |
zui大載入樣品尺寸 | 直徑：153mm |
zui大觀察范圍 | 直徑：126mm（XYR并用） |
zui大樣品高度 | 60mm (WD=15mm) |
低真空范圍 | 6-270Pa（從菜單設定） |
燈絲 | 預對中鎢燈絲 |
物鏡光闌 | 4孔可變光闌 |
槍偏壓 | 固定比例偏壓、手動偏壓、自動4偏壓 |
檢測器 | 二次電子檢測器，高靈敏度半導體背散射電子檢測器 |
EDX分析位置 | WD=15mm,TOA=35° |
真空系統 | 分子泵1臺，機械泵1臺 |
安全措施 | 停電，漏電，自動保護 |
應用領域：
半導體
生物
高分子
