多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus /AFM100 系統
AFM100 Plus /AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的, 并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高分辨掃描探針顯微鏡系統。
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特點
特點
預裝探針系統實現可靠的探針更換
一鍵自動測量/處理/分析
利用AFM標記功能實現同視野的AFM-SEM-EDS觀察分析
應用數據
介紹掃描探針顯微鏡的應用數據。
說明
解說掃描式隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)等的原理和各種狀態原理。
歷史和SPM發展
描述我們的掃描探針顯微鏡和我們的設備的歷史和發展。(Global site)