產品介紹INTRODUCTION

原子力顯微鏡（AFM）有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機械性能測量的能力。

納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM）。

倒置光學顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

特點FEATURES

電化學測試的平臺

電池，燃料電池，傳感器和腐蝕等電化學研究均處于快速增長階段，然而許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求。

Park NX12的人性化設計， 為快速操作提供便利，從而達到化學研究人員要求的功能性和靈活性。這主要包括:

• 多功能易用電化學池
• 惰性氣體和濕度的環境控制選項
• 雙恒電位儀的兼容性

研究人員可利用NX12平臺實現各種電化學應用：

• 掃描電化學顯微鏡（SECM）
• 掃描電化學池顯微鏡（SECCM）
• 電化學原子力顯微鏡（EC-AFM）和電化學掃描隧道顯微鏡（EC-STM）

光纖接入驅動聚焦平臺

• 該系統在測量期間可以從各個角度，頂部，側面以及底部光纖接入探針。
• 這種可以大范圍投置燈光的方式與設備模塊設計相結合，還可添加光學或納米學附件。

模塊化設計

• Park NX12是專門針對專業電化學研究人員需求量身定制的原子力顯微鏡平臺。
• 它基于化學和電化學性質，氣體和液體中介質的特性，為掃描探針顯微鏡提供了一個通用的解決方案，可廣泛的應用于不透明度的材料。
• Park NX12基于其廣泛的可視光投置到掃描探針的掃描探針顯微鏡技術的納米管，易用性強。
• Park NX12準確度，是多用戶設備和職業研究人員的理想平臺。

多功能應用

• ParkNX12功能廣泛，包括液體中的PinPoint™和納米力學，倒置光學顯微鏡定位透明樣品， 離子電導顯微鏡超軟樣品成像，以及增強透明樣品的光學可視性。

綜合性的力譜方法

• Park NX12提供了一種在液態和空氣中的納米力 學表征的完整解決方案，使其成為廣泛應用中的理想選擇。

優勢ADVANTAGE

簡單的探針和樣品更換

的設計能讓您輕易地用手從側面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中預先對齊的懸臂，無需再進行繁雜的激光校準工作。

閃電般快速的自動探針接近

自動的探針樣品接近功能讓用戶無需進行干預操作。

通過監視懸臂接近表面的反應，Park NX12能夠在懸臂裝載后十秒內開始并自動快速完成探針樣品接近操作。

高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號處理使得無需用戶干預就能快速接觸樣品表面。

快速精準激光調節

憑借我們*的預校準懸臂架，懸臂在裝載時激光便已聚焦完畢。

此外，作為業內一家可以提供自上而下的同軸視角讓您輕松找到激光光點。

由于激光垂道照射在懸臂上，您可通過旋轉兩個定位旋鈕道觀地在X軸Y軸移動激光光點。

這樣您可以在激光準道頁面中輕易找到激光并將其定位在PSPD上。此時您只需要稍微調整到信號，便可開始獲取數據。

適用于所有研究人員的原子力顯微鏡操作系統

不論您的原子力顯微鏡是用于學術研究、工業計量或是故障分析，SmartScan自動模式都將為您提供的體系，生成可發表的高質量原子力顯微鏡數據。

此外，SmartScan7TM通過原子力顯微鏡實現高效對話，即便是新手也能在短時間內像行家一樣獲取高質量數據。

FastApproachTM

點擊按鈕后，z軸掃描儀自動處理樣品，速度快于傳統的手動處理。

Park的FastApproachTM，在不需要用戶任何參與或干涉的情況下，在裝載懸臂10秒后實現了全速探測樣品表面。

易于尋找目標區域

探針樣品檢測后，光學相機會自動聚焦于樣品，尋找目標區域((AO1)。

Park SmartScanTM的用戶體驗能夠輕易地通過控制光學綜合窗口的電動平移臺實現樣品的直覺導航。

AdaptiveScanTM，加速成像

Park的創造性產品一AdaptiveScan7TM，基于樣本表面的峰值與谷值，自動控制掃描速度。

AdaptiveScanTM通過不斷調整掃描速度，以實現在速度時獲取未知形態的高質量圖像。

這與那些由經驗豐富的行家手動操作相比，不僅有效縮短了成像時間，同時也保證了高質量地成像。無論是移動到周邊位置或是瞄準新目標，AdaptiveScanTM都可自動選擇采用條件。

可選配件OPTIONAL ACCESSORIES

范圍廣泛的環境控制選項包括了多功能電化學池，控溫臺和濕度控制的手套箱。

電化學池
	電化學池 通用液池的電化學工具包
電化學選項
	恒電位儀 雙恒電位儀
環境控制選項
	手套箱 活細胞箱
控溫臺
	控溫臺(-25一 180 0C) 250 ℃加熱臺 600 ℃加熱臺
磁場發生器
	平行于樣品表面的外加 可調磁場 范圍:一300 gauss
Z掃描頭
	15 μm AFM Z掃描頭 30 μm AFM Z掃描頭 15 μm SICM 模塊 Z掃描頭 30 μm SICM 模塊 Z掃描頭
液態成像選項
	液態探針柄 開放式液池 通用液池
隔音罩
	獨立型AE 204 獨立型AE 301
夾式芯片載體
	可用于未裝載懸臂 可用于導電式AFM和EFM的針尖偏壓功能 針尖偏壓范圍:-10 V一10V
高級模式的初學者工具包
	易使用的高級模式 包括特定探針和樣品