詳情介紹：
特殊長度
堅持高精度測量
- 可以立即測量優良量子效率（優良量子產率）
- 可以消除重新激發的熒光發射
- 采用集成半球單元可以實現明亮的光學系統。
- 低雜散光多通道光譜檢測器可大大減少紫外線區域中的雜散光
堅持簡單的操作
- 專用軟件易于操作
- 易于安裝/拆卸樣品測量單元
- 節省空間和緊湊的設計
- 可以通過使用分光鏡型激發光源來選擇任意波長。
- 通過在軟件上激發波長的波長和步長值，可以進行自動測量。
堅持多功能
- 與粉末，溶液，固體（薄膜）和薄膜樣品兼容
- 豐富的分析功能
測量項目
- 量子效率（量子產率）測量
- 激發波長依賴性測量
- 發射光譜測量
- PL激發光譜測量
- EEM（激發排放矩陣）測量
用法
- 用于LED和有機EL的熒光粉的量子效率（量子產率）測量
- 膜狀
樣品的透射熒光/反射熒光的量子效率（量子產率）測量-遠程熒光粉的熒光樣品等 - 量子點，熒光探針，生物場，籠形化合物等的熒光測量。
- 染料敏化太陽能電池的量子效率（量子產率）測量
- 復雜化合物的測量
精度高的原因
1.具有完整半球的理想光學系統
QE-2000配備了一個積分半球。與積分球（全局）相比，積分球具有以下特征。
- 由于非發光部（保持器等）可以暴露于外部，因此可以保持自吸收較小，并且可以實現理想的光學系統。
- 反射鏡可使同一點的照度增加一倍，并且可以高靈敏度進行測量。
- 樣品測量池可以輕松安裝和拆卸，幾乎沒有損壞積分球內部的風險。
2.通過再激發熒光校正功能觀察“真實的物理性質值”
在包括再次激發熒光發射的狀態下，觀察到的是設備的特性，而不是觀察到材料本身的物理性質，并且無法獲得真實的物理性質值。QE-2000可以通過利用積分半球的再激發熒光校正來執行簡單而準確的測量。
3.低雜散光多通道光譜檢測儀可減少紫外線區域中的雜散光
使用傳統的檢測器（多色儀），可以在高水平檢測紫外線區域中的雜散光，因此它不適用于測量量子效率（量子產率）。大冢電子通過開發消除雜散光的技術解決了這一問題。安裝在QE-2000上的多通道光譜探測器的雜散光強度約為我們傳統產品的1/5，即使在紫外線區域也可以進行高精度的測量。
- 產品信息
- 原則
- 規格
- 測量例
- QE-2100
相關信息
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