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公司介紹主營產品

東菱科技有限公司成立於1993年，一直以來我們都專精於可靠度環境測試設備的技術，不斷精益求精，創造符合國際規範要求的可靠度應用價值，並致力於技術研發與品質改善，客戶產業遍及於電子、半導體、光電、通訊、航天、機械、實驗室、汽車…等科技產業，從產品研發到售後服務，每一個環節之間，都以客戶的觀點與需求作為思考的出發點，迎得客戶的信賴與滿意。近年來東淩公司不斷吸收歐、美、日先進國家的技術，並進行公司內部各項改革，包括制度合理化、生產自動化與管理電腦化，以期提供客戶Z精良的品質及完善的售後服務，創造企業的永續經營。公司概要：1993 年 6 月，東菱科技有限公司成立於臺北縣中和市。 1993 年 9 月，*臺自製恒溫恒濕機面世。1995 年 8 月，公司擴大生產範圍，廠房面積增至15001997 年 3 月，成立鈑金部，新一代外觀正式推出市場。1999 年 5 月，成立大陸辦事處，選址上海，成立東逹試驗設備有限公司2001 年 2 月，公司為更好的服務華東地區客戶, 成立武漢辦事處。2002 年 4 月，設立廣東服務中心，專負責華南地區的設備銷售及售後服務。2003 年 5 月，設廠於上海松江區。2003年 10 月，公司全面導入ISO9001：2000認證及5S管理機制。2005 年8 月，成立天津辦事處，專門負責華北地區的設備銷售及售後服務。2005 年 10 月，公司擴大生産規模，遷廠*海嘉定區，面積增至18000㎡。

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產品簡介在線詢價

●本公司可根據客戶使用要求制作各類非標準產品。 ●本公司有保留更改規格之權力。

X射線熒光測厚儀產品詳情

產品說明

設備圖片

設備介紹

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定zui多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點zui小可達0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：

●標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

●擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

●可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

●程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

●超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：

●全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品zui大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為●300mm x 300mm。此樣品臺可實現測定點自動編程控制。

●Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品zui大高度為270mm。

●全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品zui大高度為356mm。

●可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。

技術規格

主要規格	規格描述
X射線激發系統	垂直上照式X射線光學系統
	空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
	標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W4-50kV，0-1.0mA－標準 75W4-50kV，0-1.5mA－任選 X射線管功率可編程控制
	裝備有安全防射線光閘
濾光片程控交換系統	根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統
	二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
	位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口
準直器程控交換系統	zui多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制
	多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸	在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm 使用0.025 x 0.05 mm準直器
	在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm 使用0.3mm準直器
X射線探測系統	封氣正比計數器
	裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
樣品室	CMI900	CMI950
－樣品室結構	開槽式樣品室	開閉式樣品室
－zui大樣品臺尺寸	610mm x 610mm	300mm x 300mm
－XY軸程控移動范圍	標準：152.4 x 177.8mm 任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm	300mm x 300mm
－Z軸程控移動高度	43.18mm	XYZ程控時，150mm
－XYZ三軸控制方式	多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統	高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。 50倍和100倍觀察系統任選。
	激光輔助光自動對焦功能
	可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置	IBM計算機：2.8G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，15寸液晶，56K調制解調器。惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件	操作系統：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍	可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
－基本分析功能	無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
	樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體鍍液中的元素含量
	可檢測元素范圍：Ti22 – U92
	可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
	組成分析時，可同時測定15種元素
	多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
	元素光譜定性分析
－調整和校正功能	系統自動調整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移
	譜峰計數時，峰漂移自動校正功能
	譜峰死時間自動校正功能
	譜峰脈沖堆積自動剔除功能
	標準樣品和實測樣品間，密度校正功能
	譜峰重疊剝離和峰形擬合計算
－測量自動化功能要求XY程控機構	鼠標激活測量模式：“PointShoot”
	多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
	測量位置預覽功能
	激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能	設定測量點
	One or Two Datumn reference Points on each file
	測量位置預覽圖表顯示

－統計計算功能	平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
	數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
	數據庫存儲功能
－系統安全監測功能	Z軸保護傳感器
	樣品室門開閉傳感器
	操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師
－任選軟件	統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
	液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
	材料鑒別和分類檢測
	材料和合金元素分析
	貴金屬檢測，如Au karat評價

關鍵詞：測厚儀測量儀 CAD 線路板標準

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