反射膜厚儀/測厚儀/F20系列 

的臺式薄膜厚度測量系統

只需按下一個按鈕，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。設置同樣簡單, 只需插上設備到您運行Windows™系統計算機的USB端口, 并連接樣品平臺 , F20已在世界各地有成千上萬的應用被使用. 事實上，我們每天從我們的客戶學習更多的應用.

選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）應用于非晶態多晶硅，CMP，電介質，玻璃和塑料厚度，硬涂層厚度，集成電路故障分析，，銦錫氧化物與透明導電氧化物，醫療設備，金屬厚度測量，有機發光顯示器，眼科設備涂層，有機保焊劑/銅表面處理，聚對二甲苯涂層，光刻膠，多孔硅，制程薄膜，折射率和消光系數，硅晶圓薄膜，太陽光伏，半導體教學實驗室，卷式涂層

Filmetrics F20*是監測薄膜沉積的有效工具，可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口，實時監控長晶速度，實時測量膜厚、n 、k 值以及半導體和絕緣體涂層的均勻性。可加裝三個探頭，同時測量三個樣品，有三種不同波長選擇( 波長范圍從可見光380nm 至近紅外1700nm)； 

主要特點：

*測量精度高，優于1% ； 
*測量速度快，幾秒鐘內可完成測量； 
*整套設備可放置在沉積室外； 
*操作簡單，使用方便； 
*價格便宜

應用領域:

*分子束外延MBE； 
*金屬有機物化學氣相沉積MOCVD； 
*材料研究； 
*光電鍍膜應用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片

額外的好處：

· 每臺系統內建超過130種材料庫, 隨著不同應用更超過數百種

· 應用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）

· 網上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯網)

· 硬件升級計劃