用于測試單顆LED、LED/LED背光源、等的相對光譜分布、色品坐標、主波長、峰值波長、光譜純度、色溫、顯色指數、半寬度、光通量（配積分球），輻射功率、紅色比、色容差等參數，可同時實現LED的瞬態光學特性測量（脈沖測量）及穩態光學特性測量（直流測量）。
基本原理：
技術*性：
● 低雜散光
通過改良設計后高度匹配度的高精度光柵和科學級制冷型陣列探測器，并利用BWCT技術和雜散光校正技術，HAAS-2000的雜散可以比原有高精度 快速光譜儀的十分之一還要低。
● 寬線性動態測量范圍
與普通陣列探測器相比，HAAS-2000中的科學級陣列探測器具有更寬的線性動態范圍，且光學匹配改造設計后，儀器的動態范圍進一步拓寬。此外，SBCT技術也大輻提高了HAAS-2000的線性動態范圍。
● 快速
HAAS-2000不僅可以測量光源的穩態特性，而且可以測量它們瞬態光學特性，符合相關標準的規定。在儀器的靈敏度范圍內，無論被測光的瞬態脈沖多快（如小于微秒級），儀器均可以通過同步觸發功能實現快速的全光譜測量。HAAS-2000采用科學級陣列探測器代替機械掃描系統，可以在較短的測量時間內（毫秒級）完整完成精確測量整個光譜范圍 。
● 高精度
HAAS-2000專為高精度應用場合設計，通過對優質商用科學級制冷型陣列探測器和精密光柵進行改良設計，使其更加匹配，再配以精密的光學系統和電子 線路，同時采用多項技術，整個系統可以實現高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動態范圍，從而實現精確測量的目的。
● 高重復性和穩定性
儀器沒有機械運動的掃描機構，會產生隨環境變化的溫度因素也被恒溫制冷技術控制到了±0.05℃的水平，測量的重復性和穩定性高。
基本原理：
技術*性：
● 低雜散光
通過改良設計后高度匹配度的高精度光柵和科學級制冷型陣列探測器，并利用BWCT技術和雜散光校正技術，HAAS-2000的雜散可以比原有高精度 快速光譜儀的十分之一還要低。
● 寬線性動態測量范圍
與普通陣列探測器相比，HAAS-2000中的科學級陣列探測器具有更寬的線性動態范圍，且光學匹配改造設計后，儀器的動態范圍進一步拓寬。此外，SBCT技術也大輻提高了HAAS-2000的線性動態范圍。
● 快速
HAAS-2000不僅可以測量光源的穩態特性，而且可以測量它們瞬態光學特性，符合相關標準的規定。在儀器的靈敏度范圍內，無論被測光的瞬態脈沖多快（如小于微秒級），儀器均可以通過同步觸發功能實現快速的全光譜測量。HAAS-2000采用科學級陣列探測器代替機械掃描系統，可以在較短的測量時間內（毫秒級）完整完成精確測量整個光譜范圍 。
● 高精度
HAAS-2000專為高精度應用場合設計，通過對優質商用科學級制冷型陣列探測器和精密光柵進行改良設計，使其更加匹配，再配以精密的光學系統和電子 線路，同時采用多項技術，整個系統可以實現高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動態范圍，從而實現精確測量的目的。
● 高重復性和穩定性
儀器沒有機械運動的掃描機構，會產生隨環境變化的溫度因素也被恒溫制冷技術控制到了±0.05℃的水平，測量的重復性和穩定性高。
