本公司5月27日11時28分報道：ITC55100 半導體測試儀；（/c96719/products/d.html）
產品描述
ITC55100C 型號是新一代的行業標準系列 ITC55100 測試儀。該系統是圍繞一個非常強大的微控制器設計的，它的時序分辨率為40ns，比代型號快20倍。其對峰值和零電流的響應時間提高了十倍。結合這一功能，可提高充電和雪崩時間以及報告的峰值排水電流的準確性。
ITC55100C 型號具有雙柵驅動器作為標準功能。用戶可以設置高達 30V 的總柵驅動器，并可以選擇 30V 中有多少為正，有多少是負的。此功能可確保某些設備在雪崩期間保持狀態。
ITC55100C 執行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多種類型的測試。方法 3470 通過強調 P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平來測試它們的能力。這是通過驅動未夾緊的電感負載的設備實現的。
•單/雙設備測試
• N 通道，P 通道，混合
• 所有固態開關 • 無繼電器
• 40ns 的時序分辨率
• 電流范圍：0.1A 至 200A，0.1A 步長
• 阿瓦蘭奇電壓至 2500V
• 雙柵驅動，帶 30V 回轉
• 新的高效開爾文電路
• 傳統的 UIL 模式（通過 GPIB）
• 觸摸屏程序輸入/控制
• 波形捕獲/顯示
• 內部測試程序存儲（20 個文件）
• 高速電感充電，縮短測試時間
• 可編程泄漏測試電壓
• 阿瓦蘭切/后泄漏測試
• 阿瓦蘭奇坍塌測試
• 多功能測試處理程序控制
• 多達 15 個硬件排序箱
• 提高電壓/電流精度
• 通過閃存下載進行軟件更新
• 參數輸入的密碼控制
• 使用所有 ITC 電感負載箱運行
• 與 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口
• 簡單、完整的用戶校準
• 內置自檢
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