Keithley 2400 SourceMeter SMU 儀器

Keithley 2400 系列 SMU 儀器提供四象限精密電壓和電流源/負載，外加觸摸屏用戶界面上的測量。 這些儀器可同時提供 10 fA - 10 A 脈沖電流和/或 100nV - 200V 電壓、1000W 脈沖和 100W 直流總功率的源和測量。

2460 數字源表®源測量單元（SMU）儀器 概述：

2460型大電流數字源表®源測量單元（SMU）儀器為 您帶來*的Touch, Test, Invent®（觸摸、測試、發明） 技術。它采用創新的圖形用戶界面(GUI)和電容觸摸屏技 術，不僅使測試直覺，而且實現學習曲線最小化，幫助工 程師和科學家更迅速學習、更聰明工作、更容易發明。2460型儀器具有7A直流和脈沖電流能力，已為高功率材 料、器件和模塊特性分析和測試而優化，如碳化硅 (SiC)、 氮化鎵(GaN)、DC-DC轉換器、功率MOSFET、太陽電池 和面板、LED與照明系統、電化學電池與電池組，等等。 這些新的能力加上吉時利數十年開發高精密、高精度源測 量單元（SMU）儀器的專長，使得2460型儀器成為未來 實驗室和機架大電流應用的重要儀器。

2460 數字源表®源測量單元（SMU）儀器 主要特性：

• 在一個緊湊儀器內集成了分析儀、 曲線追蹤儀和I-V系統等多種能力， 成本更低

• 動態范圍寬，105V, 7A DC/7A 脈沖, 100W（值）

• 5英寸、高分辨率、電容觸摸屏圖 形用戶界面(GUI)

• 基本測量準確度0.012%，6位半 數字分辨率

• 源和阱(4象限)操作

• 4個“Quickset”模式，用于快速設 置和測量

• 背景敏感的幫助功能

• 前面板輸入香蕉插孔；后面板集 體輸入螺絲連接

• 2460 SCPI與TSP®腳本編程模式

• 前面板USB 2.0存儲器I/O端口， 用于傳輸數據、測試腳本或測試 配置

更迅速學習、更聰明工作、更容易發明
2460型儀器采用5英寸、全彩色、高分辨率觸摸屏，支持直觀操作，幫助 操作人員迅速熟悉儀器，優化整體速度和生產率。基于光標的簡單菜單結構， 使測試配置所需步驟減少50%，而且省去軟鍵儀器普遍使用的繁瑣的多層菜單 結構。內建的背景敏感的幫助功能，支持直觀操作，并把瀏覽單獨菜單的需求 降為最少。這些特性以及2460型儀器的多功能性，簡化了其在基礎測量和* 測量應用中的操作，無論用戶是否具有使用源測量單元（SMU）儀器的工作經驗。

2460型儀器主界面
2460型儀器基于光標的菜單結構，可以幫助 新用戶迅速和自信地配置測試。
一體化源測量單元（SMU）儀器
2460型儀器基于獲獎的第四代 源測量單元（SMU）平臺，并充分 利用已被證明的吉時利大電流源測 量單元（SMU）儀器（包括2420、 2425和2440型儀器）的能力。該儀 器可提供高度靈活的4象限電壓和電 流源/負載，適合高精密電壓和電流 測量。這款一體化源測量單元（SMU） 儀器可以用作：

2460型儀器功率包絡

• 高精密電源，具有V和I回讀功能

• 真正的電流源

• 數字多用表(數字電壓計、數字電 流計、電阻計和功率計，具有6位 半分辨率)

• 高精度電子負載

• 觸發控制器

易用性超越觸摸屏
除了采用*的觸摸屏，2460型儀器的前面板還提供改進速度、用戶友好性 和可學習性的諸多特性，包括USB 2.0存儲器I/O端口、HELP鍵、旋轉導航/控制 旋鈕、前面板/后面板輸入選擇按鈕、適合基本臺式應用的香蕉插孔。USB 2.0存 儲器端口簡化存儲測試結果和儀器配置，將測試腳本上傳至儀器，以及安裝系統 升級。前面板的所有按鈕都采用背光，提高了低照環境下的可視性。

2460型儀器的高分辨率、電容觸摸屏和前面板控制允許直觀操作，即使新用戶也感到易用。

4種“Quickset”模式簡化了一起設置。 只需輕輕一觸，就可以為不同工作模式 快速配置儀器，無需為這個操作進行間 接配置。

一觸Quickset模式加速測量設置，把測量時間 降到最短。

全面的內建連接性
通過2460型儀器后面板，可以接入后面板接入螺絲端子 連接器、程控控制接口(GPIB、USB 2.0與LXI/Ethernet)、 D-sub 9插針數字I/O端口(用于內部/外部觸發器信號和處理 程序控制)、儀器互鎖控制以及TSP-Link®插孔，從而簡化多 臺儀器測試方案配置，并省去額外適配器附件的花銷。

2460型儀器后面板連接已經優化，以保持信號完整性，并加速系統設置

將原始數據轉化為信息
完整的繪圖窗口可以轉化原始數據，并立即顯示為有用 信息，如半導體I-V曲線和伏安圖。使用2460型儀器的電子表 （Sheet）瀏覽，測試數據還可以以表格形式顯示。該儀器 支持將數據輸出至電子數據表，用于進一步分析，大大提高 研究、臺式測試、設備資格和調試的生產率。

TriggerFlow®構建模塊，適合儀器控制與執行
2460型儀器采用吉時利TriggerFlow觸發系統，便于用戶 對儀器執行進行控制。TriggerFlow圖形的創建與流程圖繪制 基本相同，它采用4個基本的構建模塊：

• 等待 – 等待一個事件的發生，然后繼續流動

• 分支 – 當條件滿足時進行分支

• 動作 – 啟動儀器動作，如測量、源、延遲、設置數字I/O等

• 通知 – 通知其他設備已發生的事件

TriggerFlow構建模塊允許創建觸發模型，從極簡單到高度復雜的觸發模型。

利用這些構建模塊組合可以通過前面板構建TriggerFlow 模型，也可以通過發送程控命令進行構建。有了TriggerFlow 系統，用戶可以構建各種觸發模型，包括簡單觸發模型以及 多至255模塊等級的復雜觸發模型。2460型儀器還包括基本 的觸發功能，如即時/定時器/手動觸發。

內建數據顯示、繪圖和電子數據表輸出功能， 很容易將測試結果轉化為有用信息。

的系統集成與編程靈活性
當2460型儀器配置為多通道I-V測試系統時，嵌入式測試 腳本處理器(TSP®)允許其運行測試腳本，因此用戶可以創建 功能強大的測試應用，并大幅縮短開發時間。TSP技術還提供 無需主機的通道擴展能力。吉時利的TSP-Link®通道擴展總線 采用100 Base T以太網電纜，可以在主從配置中實現多部 2460型儀器與其他TSP儀器的連接，如吉時利2450型數字源 表源測量（SMU）單元儀器、2600B系列系統數字源表源測 量（SMU）單元儀器及3700A系列開關/多用表系統，使之作 為一個集成系統工作。每個GPIB或IP地址的TSP-Link擴展總 線支持32部設備，因此很容易擴展系統，滿足具體的應用需 求。2460型儀器還包括SCPI編程模式，可以充分利用儀器的 各種能力。

并行測試能力
2460型儀器的TSP技術支持多個器件并行測試，可以滿 足器件研究、*半導體實驗室應用級高吞吐生產測試需求。 這個并行測試能力允許系統中的每臺儀器運行其自身的完整 測試序列，建立的多線程測試環境。2460型儀器可并行 運行的測試數量與系統中儀器數量相同。

免費儀器控制啟動軟件
2460型儀器包含KickStart儀器控制/啟動軟件，使用戶無 需編程即可在數分鐘內開始測試。在多數情況下，用戶只需 進行幾次快速測量，繪制數據圖表，并將數據存儲至磁盤， 以便日后在Excel等軟件環境分析數據。

Unmatched system integration and programming flexibility

When the 2460 instrument is configured as a multi-channel I-V test system, the embedded test script processor (TSP ®) allows it to run test scripts, so users can create powerful test applications and greatly shorten the development time. Tsp technology also provides channel expansion capability without host. The TSP link channel expansion bus of Giuli adopts 100 base t Ethernet cable, which can realize the connection between multiple 2460 instruments and other TSP instruments in the master-slave configuration, such as Giuli 2450 digital source meter (SMU) unit instrument, 2600b series system digital source meter (SMU) unit instrument and 3700a series switch / multi meter system, making it an integrated system Unified work. The TSP link expansion bus of each GPIB or IP address supports 32 devices, so it is easy to expａnd the system to meet the specific application requirements. The 2460 instrument also includes SCPI programming mode, which can make full use of various capabilities of the instrument.

Parallel test capability

The TSP technology of the 2460 instrument supports parallel testing of multiple devices, which can meet the requirements of device research and advanced semiconductor laboratory application level high throughput production testing This parallel test capability allows each instrument in the system to run its own complete test sequence and establish a complete multi-threaded test environment. The number of tests that the 2460 instrument can run in parallel is the same as the number of instruments in the system.

Free instrument control startup software

The 2460 instrument contains kickstart instrument control / start software, which enables users to start testing in minutes without programming. In most cases, users only need to make a few quick measurements, draw data charts, and store the data to disk so that they can analyze the data in the software environment such as excel in the future.