清和光學制作所M.Plan APO1.5XHR物鏡SEIWA OPTICAL

清和光學制作所M.Plan APO1.5XHR物鏡SEIWA OPTICAL

物鏡，M.Plan APO1.5XHR，M.Plan APO2.5XHR，M.Plan APO5XHR，M.Plan APO10XHR，M.Plan APO1.5XHR，M.Plan APO2.5XHR，M.Plan APO5XS，M.Plan APO10XS，M.Plan APO20XS，M.Plan APO50XSBS，M.Plan APO100XSBS，近紅外物鏡PE IR Plan 1X，PE IR Plan 2.5X，PE IR Plan 10X，PE IR Plan 20X，PE IR Plan 50X，PE IR Plan 100X，PE IR 10X 2000 HRS，PE IR 20X 2000 HRS，PE IR 50X 2000 HRS，NUV Plan APO 20X，NUV Plan APO 50X，DUV Plan 20X，DUV Plan 50X，邁克爾遜干涉物鏡MIF-2.5X-FD10.2，MIF-5X-WD26，MIF-5X-ULWD

產品介紹

兼容寬視場（φ33mm）的M.PlanAPO物鏡系列

M.PlanAPO※※xHR系列 這是M.PlanAPO物鏡系列，支持超寬視場（φ33mm），兼容

像素分辨率越來越高的相機。請 成像管MS-配合使用200-TCD33。

M.PlanAPO物鏡系列

近紅外物鏡1100nm-1600nm

PE IR平場物鏡系列

用于光發射的近紅外物鏡

長工作距離、高分辨率物鏡，在近紅外區域具有高光譜透過率。

它可用于透過硅觀察晶圓的背面或作為光電發射故障分析的透鏡。

20X 和 50X 可以連接到我們的顯微鏡 PS-888L 上，并與 YAG 激光器（波長 1064nm）配合使用

進行激光修復。

近紅外物鏡2000nm

PEIR2000HR 10X/20X/50X

近紅外 2000nm 兼容物鏡

PEIR10X-2000HR 2023 年 10 月新發布

物鏡在 2000nm 處保持 75% 或更高的透過率。

在半導體器件故障分析中，可有效檢測由于電流泄漏而導致的極弱發光。

使用從芯片背面穿過硅的紅外光可以觀察高度集成的多層半導體器件。

*可進行硅校正。請聯系我們。

近紫外物鏡 355nm

NUV Plan APO20X/50X

近紫外物鏡

用于明場觀察的長工作距離物鏡。

該物鏡經過校正，可聚焦在可見光范圍和近紫外 355nm 中使用的波長。

它被設計為在近紫外區域具有高光譜透射率，當連接到顯微鏡并與 355nm YAG 激光器配合使用時，它非常適合半導體電路和 LCD 修復等薄膜加工。

紫外物鏡266nm

DUV Plan 20X/50X

近紫外物鏡

用于明場觀察的長工作距離物鏡。

該物鏡經過校正，可聚焦在可見光范圍和近紫外 266nm 中使用的波長。

它被設計為在近紫外區域具有高光譜透射率，當連接到顯微鏡并與266nm YAG激光器配合使用時，

它非常適合半導體電路和LCD修復等薄膜加工。

邁克爾遜干涉物鏡

MIF 系列

邁克爾遜白色干涉物鏡

這是一款與白色干涉儀配合使用的物鏡。

內置分束器和參考鏡與聚焦位置的樣品圖像一起

提供與樣品高度差相對應的干涉條紋。