選件 3L5 在 5 Hz 至 3 GHz 的寬頻率范圍內(nèi)提供通用的高性能網(wǎng)絡分析功能。E5061B 除了具備 ENA 系列常見的優(yōu)異射頻性能以外，還提供完整的 LF(低頻)網(wǎng)絡測量能力，包括內(nèi)置 1 MΩ 輸入的增益相位測試端口。從低頻到高頻，E5061B 的全面測量應用包括直流－直流轉換器、PDN(配電網(wǎng)絡)和射頻器件，例如濾波器和放大器。

– E5061B網(wǎng)絡分析儀寬頻率范圍: 5 Hz 至 3 GHz

– S 參數(shù)測試端口(5 Hz 至 3 GHz, 50 Ω)

– 增益相位測試端口, 具有內(nèi)置的 1 MΩ 輸入(5 Hz 至 30 MHz)

– 在低頻頻段也有很高的寬動態(tài)范圍

– 內(nèi)置直流偏置信號源 (高達 ±40 Vdc, 100 mAdc 大值)

5 Hz 至 3 GHz S 參數(shù)測量

內(nèi)置 S 參數(shù)測試儀全面覆蓋 5 Hz 至 3 GHz 的范圍，允許用戶測試各種 50 Ω 的器件，包括濾波器、放大器、天線、電纜和 EMC 器件。此外，其全雙端口的 S 參數(shù)測量能力低至 5 Hz，非常適合對接近直流范圍內(nèi)的半導體器件的特性進行表征。

E5061B網(wǎng)絡分析儀使用增益相位測試端口進行高阻抗探測測量

E5061B 選件 3L5 配有增益相位測試端口，適于對那些需要直接連接信號源、接收機以及需要進行高阻抗探測的低頻應用進行測試。增益相位測試端口能夠讓您輕松地對低頻放大器和直流－直流轉換器等控制環(huán)路進行高阻抗探測測量。增益相位測試端口的測試頻率范圍為 5 Hz 至 30 MHz。R 和 T 接收機的輸入阻抗可以在 1 MΩ 和 50 Ω 之間進行切換。

全面的 PDN 測量解決方案

E5061B-3L5 可以在配電網(wǎng)絡(PDN: 用于高性能 LSI 的直流電源電路)的頻域內(nèi)進行全方測試。

– 5 Hz 至 3 GHz 頻率范圍

– 直流－直流轉換器環(huán)路增益測量

– 使用增益相位測試端口進行毫歐姆測量

– 用于陶瓷旁路電容器的直流偏置測量

主要特性和功能

提供各種測試儀選件，讓您選擇適合自身測試需求的配置：100 kHz 至 1.5 GHz/3 GHz，2 端口，50 或 75 Ω，傳輸/反射或 S 參數(shù)測試儀使用低頻-射頻選件（選件 3L5）滿足各類應用需求：5 Hz 至 3 GHz，2 端口，50 Ω，S 參數(shù)測試儀，增益相位測試端口，內(nèi)置的直流偏置源在單臺儀器中整合了網(wǎng)絡分析和阻抗分析功能，針對您的應用量身定制（選件 3L5 和 005）

技術指標