產品概述：
科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-52DIC配有大范圍移動的載物臺、采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念，帶有偏光裝置、微分干涉裝置，可實現偏光觀察、微分干涉觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導電粒子分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器。總放大倍數：50-800X。
◆產品特點：
1、采用了的無限遠光路設計，提供了的光學系統。
2、采用大視野目鏡和無限遠長距平場物鏡，視場平坦,成像清晰。
4、整機采用了防霉處理，保護了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。
5、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
6、配有大范圍移動的移動載物臺，適合對大型工件觀察和研究。
◆典型應用：
1、電子工業制造業對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗，
2、觀察材料表面的某些特性，3、分析金屬、礦相內部結構組織。
規格參數：
科研級微分干涉金相顯微鏡XJ-52DIC配有大范圍移動的載物臺、采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念，帶有偏光裝置、微分干涉裝置，可實現偏光觀察、微分干涉觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導電粒子分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器。總放大倍數：50-800X。
◆產品特點：
1、采用了的無限遠光路設計，提供了的光學系統。
2、采用大視野目鏡和無限遠長距平場物鏡，視場平坦,成像清晰。
4、整機采用了防霉處理，保護了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。
5、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
6、配有大范圍移動的移動載物臺，適合對大型工件觀察和研究。
◆典型應用：
1、電子工業制造業對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗，
2、觀察材料表面的某些特性，3、分析金屬、礦相內部結構組織。
規格參數：
一、顯微鏡參數：
| 序號 | 名稱 | 技術參數 |
| 01 | 平場目鏡 | 大視野WF10X(Φ22mm) |
| 02 | 明暗平場物鏡 | 無限遠長距PLL 5X/0.10DIC、10X/0.25DIC、20X/0.40DIC、50X/0.60、80X/0.75 |
| 03 | 總放大倍數 | 50X-800X |
| 04 | 觀察頭 | 三目，鉸鏈式30°傾斜可360°旋轉 |
| 05 | 轉換器 | 五孔(內向式滾珠內定位) |
| 06 | 粗微調焦機構 | 粗微動同軸調焦,帶鎖緊和限位裝置,微動格值:2μm. |
| 07 | 載物臺 | 雙層機械移動式(尺寸:280mmX270mm,移動范圍: 204mmX204mm) |
| 08 | 光瞳距離 | 53-75mm |
| 09 | 落射照明系統 | 12V50W鹵素燈, 亮度可調 |
| 內置視場光欄、孔徑光欄、(藍、綠、黃、磨砂玻璃)濾色片轉換裝置， | ||
| 10 | 偏光裝置 | 推拉式起偏振器 微分干涉相襯插板適用于5X,10X,20X,DIC物鏡 |
| 11 | 儀器重量 | 凈重11.0公斤 毛重12.5公斤 |
| 12 | 儀器尺寸 | 儀器尺寸42X45X45（cm） 包裝尺寸45X50X50(cm) |
二、目鏡參數：
| 型號 T ype | 放大倍率 Magnification | 視場直徑(mm) F.O.V | 外徑(mm) Tube diameter |
| WF10X/22 | 10X | Φ22 | Φ30.0 |
三、物鏡參數：
| 放大倍率 Magnification | 數值孔徑 N.A | 分辨率 R(μm) | 工作距離WD(mm) | 共軛距離Conjugate(mm) | 齊焦距離Parfocus(mm) | 蓋玻片厚度CoverGlass(mm) |
| 5XDIC | 0.12 | 2.55 | 18.2 | ∞ | 45 | 無 |
| 10XDIC | 0.25 | 1.10 | 20.2 | ∞ | 45 | 無 |
| 20XDIC | 0.40 | 0.70 | 6.00 | ∞ | 45 | 無 |
| 40X | 0.60 | 0.55 | 3.98 | ∞ | 45 | 無 |
| 80X | 0.80 | 0.42 | 1.25 | ∞ | 45 | 無 |
可選購件
一、顯微鏡選購件：
| 序號 | 名稱 | 技術參數 |
| 01 | 測微目鏡 | 10X(Φ22mm) |
| 02 | 無限遠物鏡 | 40、60X、100X |
| 03 | 物鏡測微尺 | 0.01mm |
二、攝像系統選購：
| 序號 | 名稱 | 參數及功能 |
| 01 | CMOS數字攝像頭 | 300萬、500萬、800萬、900萬、1000萬、1400萬（具有單張、定時采集圖像、錄像、顯示比例尺、測量、圖像拼接，融合等功能，并可以連接多媒體、打印、等多種輸出方式。） |
| 02 | CCD數字攝像頭 | 140萬、200萬、500萬（具有單張、定時采集圖像、錄像、顯示比例尺、測量、圖像拼接，融合等功能，并可以連接多媒體、打印、等多種輸出方式。） |
| 03 | 高清模擬攝像頭 | 日本JVC、松下及國產品牌580線（具有單張、定時采集圖像，錄像，疊加比例尺、測量、連接多媒體，打印輸出等功能） |
| 04 | 單反數碼相機 | 佳能、尼康、萊卡等以上像素單反相機（具有拍照、錄像等功能） |
三、分析軟件選購：
| 序號 | 名稱 | 參數及功能 |
| 01 | 基本測量軟件UV | 可單張、定時、連續采集；可顯示標尺、放大倍數；可對顯微圖像進行長度、角度、半徑、周長、面積等多種測量；可以連接多媒體、打印、等多種方式輸出。 |
| 02 | 金相分析軟件UV-MA | 包含多達400項左右符合GB、YB、JB、ASTM等標準自動評級項目，具有對金相圖像進行自動評級、圖譜比對、定標測量、定倍打印、查看圖譜、輸出報表和圖像融合等多種功能。 |
| 03 | 礦相分析軟件UV-K | 通過對顯微圖像的優化著色處理及測量來對礦相進行定量分析。可單張、連續采集；可顯示標尺；可對顯微圖像進行長度、角度、半徑、周長、面積等多種測量；可以連接多媒體、打印、等多種方式輸出。 |
| 04 | 粒度軟件UV-G | 包含所有基本測量功能，提取并計算不同顏色圖像所占面積比例，可對視場內顆粒自動測量分析，并可按顆粒的粒徑、面積、形狀等多類參數以線性或非線性統計方式輸出分布圖和積分分布圖，也可以得出D10、D50、D90等常用統計數據。可以連接多媒體、打印、等多種方式輸出。 |
裝箱清單
| 序號 | 名稱 | 主要技術參數 | 單位 | 數量 |
| 01 | 顯微鏡機架 | 臺 | 1 | |
| 02 | 三目鏡筒 | 只 | 1 | |
| 03 | 無限遠物鏡 | 5X、10X、20X、40X、80X | 只 | 各1 |
| 04 | 平場目鏡 | 10X | 對 | 1 |
| 05 | 落射照明器 | 套 | 1 | |
| 06 | DIC插片 | 套 | 1 | |
| 07 | 偏光裝置 | 起偏器、檢偏器 | 套 | 1 |
| 08 | 內六角 | 套 | 1 | |
| 09 | 濾色片 | 藍、綠、黃、磨砂 | 片 | 各1 |
| 10 | 攝像接口 | 只 | 1 | |
| 11 | 鹵鎢燈 | 12V/50W | 只 | 1 |
| 12 | 防塵罩 | 個 | 1 | |
| 13 | 電源線 | 根 | 1 | |
| 14 | 產品說明書 | 本 | 1 | |
| 15 | 產品裝箱單 | 份 | 1 | |
| 16 | 產品合格證 | 份 | 1 | |
| 17 | 產品保修卡 | 份 | 1 |
