產品概述：
15J測量顯微鏡是光學計量儀器之一，它結構簡單，操作方便，適用范圍極廣。總放大倍數：25X-100X
主要用途：
1、直角坐標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔外圓直徑等等。
2、轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3、用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。
規格參數：
15J測量顯微鏡是光學計量儀器之一，它結構簡單，操作方便，適用范圍極廣。總放大倍數：25X-100X
主要用途：
1、直角坐標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔外圓直徑等等。
2、轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3、用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。
規格參數：
一、光學系統參數：
| 01 | 目鏡 | 10X 帶十字尺 焦距：25.00mm | |
| 02 | 物鏡 | 2.5X/0.08 焦距：43.40mm | 10X/0.25 焦距：17.13mm |
| 03 | 顯微鏡放大倍數 | 25X | 100X |
| 04 | 工作距離 | 58.84mm | 7.81mm |
| 05 | 視場直徑 | 5.60mm | 1.40mm |
二、其他參數：
| 測量工作臺讀數裝置主要規格 | ||
| 01 | X—軸移動測量范圍 | 50mm |
| 02 | Y—軸移動測量范圍 | 13mm |
| 03 | 測微器分度值 | 0.01mm |
| 04 | 測量臺轉動范圍 | 不限 |
| 05 | 測量臺刻度盤分度范圍 | 0° -360 ° |
| 06 | 測量臺刻度盤之分度值 | 1° |
| 07 | 測量臺刻度盤游標讀數示值 | 6′ |
| 測量精度 | ||
| 01 | 儀器示值誤差 | ±(5+L/15)μm L—被測件長度（mm） |
| 02 | 儀器示值誤差 | 包括測量誤差與儀器系統誤差。 |
| 03 | 測量地點溫度變化 | （20°C±3°C） |
| 儀器主要尺寸 | ||
| 01 | 測量臺與物鏡之間距離 | 80mm |
| 02 | 測量工作臺直徑 | 120mm |
| 03 | 儀器外形尺寸 | （長×寬×高）262×220×325mm |
| 04 | 儀器重量 | 約10.6㎏ |
