X熒光光譜儀優點:
1、分析速度高。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘可以測完樣品中的全部待測元素;
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定;
3、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好;
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析;
5、分析精密度高;
6、制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
X熒光光譜儀是一種較新型的可以對多元素進行同時測定的儀器,在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X熒光),波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

X熒光光譜儀是一種的、非破壞式的物質測量方法,X射線熒光是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線,這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。

X熒光光譜儀是一種無損的,應用廣泛的光譜分析儀器,X熒光光譜儀由激發源和探測系統構成,X射線管產生入射X射線,激發被測樣品,受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。

我們公司憑著團結,務實,敬業,奉獻的企業精神,經過全體員工的努力拼搏和積開拓,在市場享有較高的信譽。公司以優惠的價格回報客戶。