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產品概述
晶振測試儀GDS-80M搭載智慧源自主研發的寬頻測試技術，支持高頻晶振的全參數快速測量與深度分析。其創新的自適應抗干擾算法與多頻點校準功能，確保在復雜電磁環境下仍能保持超高的測試重復性與穩定性，適用于5G通信、衛星導航、高速計算等高附加值領域。
核心功能與參數解析
串聯諧振頻率（Fs）與負載諧振頻率（Fl）
Fs（無負載諧振頻率）：精準測定晶體在零相位偏移下的固有頻率，誤差低至±0.1ppm，為高頻晶振的基礎性能提供核心數據。
Fl（負載諧振頻率）：通過可編程負載電容（5pF–100pF）模擬真實電路環境，驗證晶體在目標應用中的實際工作頻率。
等效電阻（R1）與負載電阻（RL）
R1（諧振電阻）：直接反映晶體的能量損耗水平，分辨率達0.1Ω，可快速識別有缺陷或性能退化的晶振。
RL（負載電阻）：結合用戶自定義的負載電容，精準匹配高頻電路的阻抗特性，避免信號反射導致的頻率失真。
動態參數（C1/L1）與品質因數（Q值）
動態電容（C1）與電感（L1）：基于改進型π型等效電路模型，自動計算晶體的動態參數，幫助優化高頻電路的相位噪聲與抗振性能。
Q值：支持10^6級品質因數測量，助力設計高穩定性振蕩器與窄帶濾波器。
負載電容（CL）與頻率牽引力（TS）
CL調節范圍：0~1nF（步進0.1pF），支持多級負載電容切換測試，滿足TCXO/VCXO等復雜晶振的調頻需求。
TS靈敏度分析：量化頻率隨負載電容變化的斜率（ppm/pF），為高頻電路的溫度補償設計提供關鍵參數。
技術突破與優勢
高頻覆蓋能力：采用超低相位噪聲信號源與多級濾波技術，可在1MHz–60MHz范圍內實現-160dBc/Hz@1kHz的相位噪聲性能。
極速測試：多參數并行處理架構使單次測試時間縮短至0.3秒，配合1000組內部存儲，大幅提升產線效率。
智能互聯：配備LAN/USB/GPIB接口，支持SCPI指令集與LabVIEW二次開發，無縫集成自動化測試系統（ATE）。
防護：全鑄鋁外殼通過IP54認證，內置主動溫控系統，可在-40°C~85°C嚴苛環境下穩定工作。
應用場景
5G基站與光模塊：驗證高頻晶體在毫米波頻段的頻率穩定性與抗干擾能力。
衛星導航與雷達：保障溫度下晶振的頻率精度與長期老化特性。
AI算力芯片：為GPU/FPGA提供超低抖動的時鐘源校準支持。
車規級電子：通過AEC-Q200認證，滿足動力系統與ADAS模塊的測試需求。
結語
智慧源晶振測試儀GDS-80M以高頻覆蓋、超精測量、智能擴展三大核心價值，重新定義高頻晶振測試新標準。無論您是追求精度的研發機構，還是需要萬級產能保障的制造企業，GDS-80M都將成為您值得信賴的品質伙伴。
智慧測試，源于專業——智慧源驅動高頻科技未來！
注：本產品可根據需求選配晶振老化測試模塊與三溫測試夾具，全面滿足IEC 60679、MIL-PRF-3098等國際標準要求。
