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一、產品概述
晶振頻率測試儀 GDS-80P 是一款高性能的晶振測試設備，專為滿足石英晶體阻抗特性的測量需求而精心打造。該儀器采用π型網絡零相位法，實現高精度的測量，符合IEC-444標準。其測試頻率范圍為10KHz-100MHz，能夠對晶振的多種關鍵參數進行全面、準確的測試，包括串聯諧振頻率、負載諧振頻率、等效電阻、負載電阻、負載電容、動態電容、動態電感、品質因數和頻率牽引力等。廣泛應用于晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業等生產和科研領域。
二、核心優勢
（一）全頻段智能測試
晶振頻率測試儀GDS-80P 實現10kHz–100MHz全頻覆蓋，適配從低頻計時器到高頻5G模塊的全場景需求，一機覆蓋全頻段，無需多設備采購，綜合成本降低40%。
（二）九大參數同步測量
能夠同步測量諧振頻率（串聯諧振頻率Fs、負載諧振頻率Fl）、阻抗特性（等效電阻R1、負載電阻RL、負載電容CL）、動態性能（動態電容C1、動態電感L1、品質因數Q值、頻率牽引力TS）等九大參數。
（三）智能抗干擾設計
采用多級數字濾波技術，復雜工況下測試穩定性提升80%；全金屬屏蔽機身，通過EMC Class B認證，無懼電磁干擾。
（四）極速測試體驗
多線程并行處理架構，單次測試僅需0.25秒；支持500組數據存儲，一鍵導出PDF/Excel報告。
（五）全場景適配
寬溫工作范圍（-30℃~70℃），滿足工業車間及實驗室環境；可選配自動探針臺，無縫對接SMD晶振產線檢測。
三、技術參數
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 測試頻率范圍 | 10KHz-100MHz |
| 負載電容 | 1-100pF |
| 負載諧振電阻 | 1Ω-300Ω，1K-300K |
| PPM范圍測量 | ±300ppm，測量精度：<0.5ppm |
| 時基頻率 | 16.384M |
| 晶振穩定性 | 2×10??/日 |
| 體積 | 80×235×305（mm） |
| 保修期 | 三年 |
四、使用說明
（一）開機準備
將晶振測試儀GDS-80P連接電源，開機后等待設備自檢完成，確保設備處于正常工作狀態。
（二）連接晶振
根據被測晶振的類型和測試需求，將晶振正確連接到儀器的測試端口。儀器可適配不同封裝的晶振，包括SMD封裝（如3225/5032等）、插件晶振（如HC-49/U/S）等。
（三）參數設置
在儀器的操作界面上，根據具體的測試要求設置相應的參數，如測試頻率、負載電容等。儀器具備智能分析系統，可自動識別并適應不同的測量需求。
（四）開始測量
確認各項設置無誤后，點擊“開始測量”按鈕，儀器將自動進行測量，并在屏幕上顯示測量結果。測量過程中，儀器會實時采集數據，并進行分析處理。
（五）數據讀取與保存
測量完成后，用戶可以在儀器的屏幕上查看測量結果，包括串聯諧振頻率、負載諧振頻率、等效電阻、負載電阻、負載電容、動態電容、動態電感、品質因數、頻率牽引力等參數。通過RS-232接口或USB接口，可將測量數據上傳至電腦進行數據管理和分析。
五、采購信息
- 價格：晶振測試儀GDS-80P的參考價為25800元/臺，具體成交價以合同協議為準。
- 訂貨量：≥1臺，可根據實際需求進行采購。
- 供貨期：一般為7-15個工作日，具體以供應商確認為準。
