完整的生產測試，無需犧牲空間
滿足您的所有生產測試需求，在同一空間內有兩條隔離的寬動態源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 范圍內，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 簡化 FET 測試
特點
- 在同一空間內可有 2 條通道
- 最寬的電壓和電流動態范圍
- 高度準確的 100 µs 脈沖可擴展直流生產測試能力
嵌入式腳本提供的生產吞吐量
滿足您的所有生產測試需求，在同一空間內有兩條隔離的寬動態源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 范圍內，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 系列進行二極管生產測試
特點
- 消除與 PC 之間耗時的總線通信
- 高級數據處理和流量控制
- 通用型探頭/處理程序控制
系統性能，無主機
TSP-Link® 技術支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時所有通道同時獨立受控。
使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設備的生產吞吐量
特點
- 支持 <500 ns 通道間同步
- 可達 32 條或 64 條獨立 SMU 通道
- 隨著測試要求變化輕松重新配置
適合生產的低電流性能
2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范圍內提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產成功。
特點
- 在電流范圍內穩定時間快 7 倍
- 具有市面上的低電流分辨率
- 直接三芯同軸連接簡化了設置
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應用
3D 傳感與成像檢定
在汽車行業的自動駕駛、游戲和消費品的增強現實以及工業應用的人機界面和機器人技術等諸多應用中，對三維空間中距離和速度測量的需求日益增長。部署 SMU 用于測試廣泛用于在 3D 應用中獲取深度信息的垂直空腔表面發射激光 (VCSEL)。
使用 2602B 型系統 SourceMeter 儀器對激光二極管模塊和 VCSEL 進行 2626 高吞吐量 DC 生產測試
使用 2600B 系列系統 SourceMeter® 儀器增強用于 VCSEL 的大批量生產測試的觸發同步
特點
- 可編程電流源可達 10 A 和 100 µs
- 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
- 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
LED 簡化的 I/V 檢定
2600B 系列 SMU 是業界的儀器，用于 LED 直流檢定和生產測試。 其可配置為源電流或電壓與 0.02% 精度的電壓和電流測量結合，滿足各種測試需求。此外，其測試腳本處理器 (TSP®) 技術還提供吞吐量優勢。
LED 簡化的 I/V 檢定
高亮度 LED 的高速測試
實惠而準確的 LED 生產測試
特點
- 可編程電流源可達 10 A 和 100 µs
- 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
- 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
IDDQ 測試與待機電流測試
吉時利的 2634B/35B/36B 模塊采用業界優秀的低電流靈敏度，旨在滿足生產環境的吞吐量要求。其是 CMOS 集成電路和電子產品制造商測量靜態（待機）電流（又稱為漏電或 IDDQ）的理想之選，可檢查長時間使用可能導致故障的短路氧化柵極和其他缺陷。
IDDQ 測試與待機電流測試
特點
- 0.1 fA 分辨率
- 穩定時間比競爭產品快 7 倍
高度同步的多引腳并行測試設備測試
Keithley 2600B 系列系統 SourceMeter® SMU 儀器將堆架式儀器的可擴展性和靈活性與基于主機系統的集成和高吞吐量相結合，使用 TSP 和 TSP-鏈路技術減少制造活動和測試成本。
創建可擴展、多針、多功能 IC 測試系統
特點
- 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
- TSP-鏈路多達 32 臺儀器可在 500 ns 內與其他 Keithley TSP 儀器同步
功率管理設備測試
DC-DC 轉換器是一種廣泛使用的電子元件，可在調節輸出電壓的同時將 DC 電源從一種電壓電平轉換為另一種電壓電平。輸出為電路提供恒定電壓，無論輸入電壓或負載電流的變化如何。雙通道 2600B SMU 和示波器用于測試功率管理設備。
簡化 DC-DC 轉換器檢定
特點
- 雙通道 SMU 用于測試輸入/輸出功率
- 交流測試包括測量啟動時間、紋波、頻譜分析和瞬態響應。
