X射線鍍層測厚儀膜厚片
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品牌：美國Calmetrics 中國區總代理 詳細: 許
美國Calmetrics一系列標準片，標準片通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認證，UPA是美國原廠制作標準片的專業認證公司，其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產制作標準樣品。
UPA鍍層標準片適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規格與尺寸。
特色：標準片A2LA校正認證，質量精良，精度高、穩定性好
X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式標準片
X射線鍍層測厚儀膜厚片/測厚儀標準片又名膜厚儀校準片或者薄膜片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。
X射線鍍層測厚儀膜厚片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST證書）
我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，并附有標準片厚度值NIST證書.
我們除了可以提供測厚儀標準片之外，還可以提供β射線測厚儀的標準片和庫侖測厚儀的標準測試藥水。并有X射線測厚儀、β射線測厚儀、磁感應測厚儀、渦電流測厚儀、庫侖測厚儀等出售。
我們公司是一家精密測試儀器代理商，為顧客提供的產品及服務。 我公司在中國地區代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及美國Thermo第二代光學準直器X熒光測量儀。此兩種儀器主要用于涂鍍層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。歡迎隨時或親臨我司測試及參觀!!!我們將竭力為您服務。
十多年來，我們一直服務于PCB 廠商、電鍍行業、科研機構、半導體生產、微電子、光電子、光通訊等電子行業。我們提供高質量的產品和的服務都得到顧客zui高的獎勵，在未來,我們將繼續履行顧客的期望、要求和需要，愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖！需詳細資料，請與我們。
