光電探測(cè)系統(tǒng)是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的計(jì)量?jī)x器，于2016年3月10日啟用。光電探測(cè)系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)最多可達(dá)6個(gè)探測(cè)臂、溫度范圍：4.2K到325K、樣品直徑：30mm、真空度：10e-5torr、磁場(chǎng)：2T、磁場(chǎng)可以垂直及平行于樣品，并且在平行及垂直方向附帶光學(xué)窗口，透光范圍為從可見(jiàn)光到紅外光波段、能配合吉時(shí)利4200系統(tǒng)測(cè)試霍爾效應(yīng)及磁電阻效應(yīng)等。[1]光電探測(cè)系統(tǒng)主要功能非常適合集成到客戶設(shè)計(jì)的磁測(cè)試平臺(tái)中，應(yīng)用于磁光研究、磁滯研究、在線退火、霍爾效應(yīng)研究、磁化率測(cè)量等領(lǐng)域。[1]詳情>>
光電探測(cè)系統(tǒng)價(jià)格
