【儀表網 研發快訊】2025年3月13日，中國科學院科技基礎能力局組織專家在中國科學院長春光學精密機械與物理研究所對中國科學院科研儀器設備研制項目“基于室溫‘零漂移’掃描探針技術的原子尺度半導體電光特性表征儀器系統”進行了驗收。中國科學院科技基礎能力局科技條件處副處長陳代謝，長春光機所所務委員李光鑫、條件保障處處長呂寶林、所級中心辦公室主任梁爽、財務管理處副處長王紅鋒參加了此次驗收會
驗收專家組由技術專家組和財務專家組組成，組長由中國科學院半導體所汪鵬飛研究員擔任。經技術測試和財務審查后，專家組聽取了項目工作報告，審議并修訂了技術測試大綱，并現場核查了設備運行情況。經質詢討論后，驗收專家組一致認為，項目組完成了項目實施方案規定的全部任務，達到了項目預期目標，項目通過驗收。
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