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FISCHER-XDL-B-膜厚測試儀

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更新時間：2023-07-18 07:27:41瀏覽次數：138次

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產品簡介

FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基於Windows的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統

詳細介紹

FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基於Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。測量方向從上往下。
XDL-B 的特色是的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對於XDL?-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性。在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。

典型的應用範圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

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