詳細(xì)摘要: 可對(duì)裸眼不可見的區(qū)域進(jìn)行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對(duì)半導(dǎo)體晶片內(nèi)部和集成電路組件背面進(jìn)行無損的CPS bumps觀察
產(chǎn)品型號(hào):所在地:蘇州市更新時(shí)間:2023-01-17 在線留言行業(yè)產(chǎn)品
英菲洛精密科技(蘇州)有限公司
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詳細(xì)摘要: 可對(duì)裸眼不可見的區(qū)域進(jìn)行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對(duì)半導(dǎo)體晶片內(nèi)部和集成電路組件背面進(jìn)行無損的CPS bumps觀察
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