4200A-SCS 半導體參數動態分析儀 參考價:面議
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在開發和使用MOSFET、IGBT、二極管及其他大功率器件,需要進行器件級的靜態參數測量,如擊穿電壓、通態電流和電容測量,并不斷優化開關狀態下的電氣性能。就要使...