梅特勒-托利多創新的微量和超微量天平XP/XS設立了高效稱量、用戶友好的操作

界面和高質量的新標準。這些微量天平可以提供現有分析天平具有的zui高分辨率

：高達*的52,000,000位。明亮的觸摸顯示屏、智能化用戶操作指導以及

無需用手接觸的紅外防風罩控制功能使得該系列高精度天平稱量更快速、操作更

簡便、更有趣味。

主要特點：

1. 稱量性能：該系列微量天平可以提供現有分析天平具有的zui高分辨率，高達無可

匹敵的50,000,000位。

2. 天平操作：觸摸顯示屏提供*的用戶友好的操作界面，多達8個個性化設置

的用戶操作界面可以被自由設定、保持和恢復。

3. SmartSens紅外感應器：無需用手接觸天平就可以開關防風門，將樣品放置在秤盤

上。稱量操作更快速、更便捷。