詳細摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400a...
產品型號：SE 400adv所在地：上海更新時間：2024-06-09 在線留言上海德竹芯源科技有限公司
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詳細摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400a...
產品型號：SE 400adv所在地：上海更新時間：2024-06-09 在線留言
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產品型號：SENpro所在地：上海更新時間：2024-06-06 在線留言
詳細摘要： 動態二次離子質譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產生二次離子，然后用質譜分析儀分析二次離子的質荷比（m/q），從而得知元素在樣...
產品型號：ADEPT 1010所在地：上海更新時間：2024-01-21 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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