目錄:廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司>>高低溫試驗(yàn)箱>>小型高低溫試驗(yàn)箱>> THC-408PF高低溫線性升降溫試驗(yàn)箱
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更新時(shí)間:2025-03-17 11:58:32瀏覽次數(shù):154評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 額定電壓 | 380V |
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加工定制 | 是 | 濕度范圍 | 10-98% R.H |
外形尺寸 | 89*154*192mm | 溫度波動(dòng)度 | 0.5℃ |
溫度范圍 | -70~+150℃ | 溫度均勻度 | 2.0% |
重量 | 320kg |
高效制冷系統(tǒng):制冷系統(tǒng)采用復(fù)疊式制冷技術(shù),如德國(guó)比澤爾、丹麥丹佛斯等。該系統(tǒng)能快速實(shí)現(xiàn)超低環(huán)境,制冷速度快且性能穩(wěn)定。同時(shí),選用環(huán)保冷媒,如 R23、R290 等,在保障制冷效果的同時(shí),降低對(duì)環(huán)境的影響,符合綠色發(fā)展理念。
穩(wěn)定加熱系統(tǒng):加熱系統(tǒng)采用鎳鉻合金電加熱元件,升溫迅速且發(fā)熱均勻。多段式加熱控制技術(shù)可根據(jù)不同測(cè)試需求,精準(zhǔn)調(diào)節(jié)加熱功率,實(shí)現(xiàn)快速升溫與穩(wěn)定控溫。無(wú)論是從超低溫快速升溫,還是在高溫段保持恒溫,加熱系統(tǒng)都能高效運(yùn)行,滿足多樣化測(cè)試場(chǎng)景。
堅(jiān)固耐用箱體:箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型的高強(qiáng)度冷軋鋼板,經(jīng)多層靜電噴塑處理,具耐腐蝕性能,可適應(yīng)長(zhǎng)期高強(qiáng)度使用。內(nèi)部?jī)?nèi)膽選用進(jìn)口 SUS316L 不銹鋼,在高低溫環(huán)境下均能保持良好性能,表面光滑易清潔,防止污染物積聚影響測(cè)試結(jié)果。
優(yōu)質(zhì)保溫材料:為有效減少熱量傳遞,維持箱內(nèi)溫度環(huán)境,試驗(yàn)箱采用真空絕熱板結(jié)合聚氨酯發(fā)泡材料的復(fù)合保溫結(jié)構(gòu)。真空絕熱板導(dǎo)熱系數(shù)極低,能極大程度阻隔熱量傳導(dǎo),聚氨酯發(fā)泡材料填充緊密,進(jìn)一步增強(qiáng)保溫效果,降低能耗,確保設(shè)備在運(yùn)行時(shí)的穩(wěn)定性與節(jié)能性。
智能化操作界面:配備智能化彩色觸摸屏操作界面,操作簡(jiǎn)單直觀。用戶可通過(guò)界面輕松設(shè)定線性升降溫程序、溫度參數(shù)、循環(huán)次數(shù)等,還能實(shí)時(shí)查看箱內(nèi)溫度曲線、運(yùn)行狀態(tài)等信息。此外,界面支持中英文雙語(yǔ)顯示,方便不同地區(qū)用戶使用。
數(shù)據(jù)記錄與分析:試驗(yàn)箱內(nèi)置大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊,可長(zhǎng)期保存測(cè)試數(shù)據(jù)。具備歷史數(shù)據(jù)查詢、導(dǎo)出功能,方便用戶對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行回溯分析。同時(shí),可連接電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,生成專業(yè)測(cè)試報(bào)告,為產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量改進(jìn)提供有力的數(shù)據(jù)支撐。
寬溫度范圍:擁有極為寬泛的溫度調(diào)節(jié)區(qū)間,低溫下限可達(dá) -70℃,模擬極地、深太空等冷環(huán)境,滿足如航空航天材料、電子元器件在極寒條件下的性能測(cè)試需求。高溫上限則能攀升至 150℃,有效模擬工業(yè)高溫生產(chǎn)場(chǎng)景、熱帶氣候等,適用于材料老化測(cè)試、電子產(chǎn)品高溫穩(wěn)定性檢測(cè)。無(wú)論是嚴(yán)苛的低溫超導(dǎo)材料研究,還是高溫環(huán)境下的汽車發(fā)動(dòng)機(jī)部件可靠性驗(yàn)證,該試驗(yàn)箱都能精準(zhǔn)還原環(huán)境條件。
高精度溫度控制:采用溫度傳感器與 PID(比例 - 積分 - 微分)控制技術(shù),實(shí)現(xiàn)溫度控制精度達(dá) ±0.1℃。在復(fù)雜的線性升降溫過(guò)程中,箱內(nèi)溫度緊密貼合設(shè)定值,極大減少溫度波動(dòng)對(duì)測(cè)試結(jié)果的干擾。例如在芯片制造過(guò)程中,對(duì)溫度精度要求,該試驗(yàn)箱能確保芯片在模擬境下的性能測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠,為芯片性能優(yōu)化提供堅(jiān)實(shí)依據(jù)。
出色的溫度均勻度:通過(guò)優(yōu)化風(fēng)道設(shè)計(jì)與空氣循環(huán)系統(tǒng),試驗(yàn)箱工作空間內(nèi)溫度均勻度可達(dá) ±1℃。這意味著測(cè)試樣品各部位在高低溫環(huán)境中受熱均勻,避免因局部溫度差異導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果偏差。在材料性能測(cè)試中,均勻的溫度場(chǎng)能更真實(shí)地反映材料在統(tǒng)一環(huán)境下的特性,提高測(cè)試結(jié)果的可信度與可比性。
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