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HY(IC)卡片材料彎扭試驗機技 術 參 數:本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO...
南京IC卡動態彎扭試驗機產品用途: 用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
IC卡動態彎曲試驗機產品用途: 用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
HY(IC)IC卡動態彎扭試驗機設備本儀器針對IC卡在國標GB/T 16649.1等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 采用先進的同步帶傳動,非接觸式光電計數,15...
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩...
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩...
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩...
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