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當前位置：深圳市科銳詩汀科技有限公司>>低溫黑體及大面源黑體>> 低溫黑體和大面源黑體
產品型號
品 牌其他品牌
廠商性質代理商
所 在 地深圳市
更新時間：2025-02-07 14:44:11瀏覽次數：2608次
低溫黑體和大面源黑體
詳情介紹
低溫黑體和大面源黑體美國SBIR紅外公司成立于1986年，經過逾20年的發展，已經成為國際上電光測試裝備的*，所研發產品尤其是黑體源大量的應用于美國紅外系統測試及焦平面探測器測試等領域。其產品性能主要如下：
腔式黑體
低溫黑體
大面源黑體
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