當前位置:上海拓豐儀器科技有限公司>>手機、電腦業檢測儀器>> TF-566TF-566模擬操作耐久試驗機
說明
Notebook 測試規格 : 磁盤片插入、退出試驗。 光驅插入、退出試驗。 PCMCIA 插入、退出試驗。 電池插入、退出試驗。 各種接頭插入、退出試驗。 PRINT 埠、 COM 埠、 USB 、 PS2 等等 桌面放落試驗 。 手機測試規格 : 天線上、下抽取試驗。 天線彎曲試驗。 電池插入、拔出試驗。 連接器插入、拔出壽命試驗。 ON 、 OFF 開關機壽命試驗。 上蓋打開、關閉壽命試驗。 短距離落下壽命試驗。 SIM 卡插入、拔出壽命試驗。 PDA 測試規格 : CF 卡插拔耐久試驗。 Battery 蓋插、拔耐久試驗。 DC 插頭耐久試驗。 連接器插、拔耐久試驗。 筆插拔耐久試驗。 觸控屏幕摩擦耐久試驗。 ON 、 OFF 開關機耐久試驗。
附件
中文說明書及壹年保固書各一份!
服務承諾
壹年內免費維修,整機終身服務! 送貨上門,含安裝調試及人員操作培訓!
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