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測(cè)量范圍	可以檢測(cè)6層鍍層、0.001um-80um	測(cè)量精度	0.001um
產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	加工定制	是
重量	85kg

　　臺(tái)式鍍層厚度檢測(cè)儀

　　在電鍍應(yīng)用中，磁性材料或是鐵基材料經(jīng)常會(huì)用到鍍鎳銅鎳的鍍層種類，但是因?yàn)槭讓雍偷谌龑佣际擎囋兀猿Ｒ?guī)的X射線測(cè)厚儀無(wú)法區(qū)分，所以只能測(cè)量出雙層鍍鎳層的總厚度，無(wú)法單獨(dú)測(cè)量出首層鎳層和第三層鎳的厚度。

　　我公司經(jīng)過(guò)對(duì)鍍鎳銅鎳層的研究，應(yīng)用第三代EFP無(wú)標(biāo)樣算法，解決了這一難題，應(yīng)用X射線光譜儀鎳銅鎳鍍層厚度檢測(cè)儀一樣可以快速、無(wú)損的分開(kāi)測(cè)量出鍍鎳銅鎳三層鍍層的厚度。

　　技術(shù)指標(biāo)：

　　1.多鍍層分析，1～6層；

　　2.測(cè)試精度：0.001 μm；

　　3.元素分析范圍從元素分析范圍：氯(Cl)- 鈾(U)，涂鍍層分析范圍：氯(Cl)/鋰(Li)- 鈾(U)

　　4.測(cè)量時(shí)間：1~60秒(根據(jù)不同種鍍層種類在工程師的建議下可以自動(dòng)調(diào)節(jié))；

　　5.SDD探測(cè)器，能量分辨率為125±5eV；

　　6.小測(cè)量直徑0.05mm(小測(cè)量面積0.002mm²)

　　7.對(duì)焦距離：0-90mm(可以檢測(cè)多90mm的凹槽面的鍍層厚度)

　　8.微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶(高配微焦鉬靶)；

　　9.6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換；

　　10.XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)，MAX荷載為5公斤；

　　11.高清CCD攝像頭(200萬(wàn)像素)，準(zhǔn)確監(jiān)控位置；

　　12.多變量非線性去卷積曲線擬合；

　　1.高性能FP/MLSQ分析；

　　14.儀器尺寸：618×525×490mm；

　　15.樣品臺(tái)尺寸：250×220mm；

　　16.樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：前后左右各80mm、高度90mm。

　　圖譜界面

　　軟件支持無(wú)標(biāo)樣分析；

　　寬大分析平臺(tái)和樣品腔；

　　集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面；

　　采用多種光譜擬合分析處理技術(shù)；

　　鍍層測(cè)厚分析精度可達(dá)到0.001μm。

　　分析報(bào)告結(jié)果

　　直接打印分析報(bào)告；

　　報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF，EXCEL格式。

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