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BX-Y1251E-1200高溫三環電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及...

BX-Y1251D-1000高溫三環電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及...

BX-Y1251C-800高溫三環電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數...

BX-Y1251B-600高溫三環電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數...

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BX-Y1251-200高溫三環電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數據...

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BX-Y1249G-1600導體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業、高等院校、科研部門對導體材料電阻、電阻率和電導率數據測量需求.常用于金屬類導體材料及非金...

BX-Y1249F-1200導體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業、高等院校、科研部門對導體材料電阻、電阻率和電導率數據測量需求.常用于金屬類導體材料及非金...

BX-Y1245D-1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注...

BX-Y1245C-800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入...

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