冷熱沖擊檢測箱

　　冷熱沖擊檢測箱用途： www.ytlrcjx.com

　　冷熱沖擊檢測箱國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品在高低溫低氣壓單項或同時作用下，模擬高海拔、高空、（高原地區(qū)）氣候進(jìn)行貯存運用、運輸可靠性試驗，并可同時對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測試。

　　冷熱沖擊檢測箱選型及工作尺寸：

　　HL-80LW寬40XH高50XD深40cm

　　HL -120LW寬50XH高60XD深40cm

　　HL -150LW寬50XH高60XD深50cm

　　HL -225LW寬60XH高75XD深50cm

　　HL -306LW寬60XH高85XD深60cm

　　冷熱沖擊檢測箱產(chǎn)品特點： www.asliyq.com

　　1.平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTHC）,以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內(nèi)保持一定的壓力，并采用智能型數(shù)字溫度調(diào)節(jié)儀進(jìn)行溫度的顯示與控制設(shè)定，故能*穩(wěn)定使用.

　　2.全新的造型設(shè)計，外觀高質(zhì)感水平,系統(tǒng)提取日本、西德技術(shù)之精華設(shè)計制造.

　　3.采用全毛細(xì)管,自動負(fù)載容量調(diào)整系統(tǒng)技術(shù),較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,使高低溫自由轉(zhuǎn)換、設(shè)置、顯示更加精確，升降溫速度快速、平穩(wěn)、均勻，為使用者節(jié)約寶貴時間.

　　冷熱沖擊檢測箱性能:

　　1.溫度范圍:-70~+150℃/-50~+150℃/-40~+150℃/-20~+150℃/0~+150℃

　　2.控制穩(wěn)定度：±0.5℃

　　3.分布均勻度：±1.5℃

　　4.正常升溫時間：+20℃~+150℃小于40分鐘非線性空載。

　　5.正常降溫時間：+20~—40℃小于60分鐘.非線性空載.

　　6.溫度波動度:±0.5℃.

　　7.溫度均勻度:±1.5℃.

　　8.氣壓范圍：常壓（1.01325×105Pa）～0.5kPa

　　u壓力偏差：當(dāng)常壓～壓力≥40kPa時，誤差≤±2.0kPa;

　　u當(dāng)2kPa≤壓力<40kPa時，誤差≤±5%;

　　u當(dāng)壓力≤2kPa～0.5kPa時，誤差≤±0.1kPa;

　　u降壓速率:常壓~0.5KPa≤45min（常溫、箱內(nèi)干燥）

　　u壓力恢復(fù)速率:≤10kpa/min;

　　9.測時間設(shè)置：0～99.59Hr.

　　冷熱沖擊檢測箱機械結(jié)構(gòu)

　　1.圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗中結(jié)露滴水設(shè)計;

　　2.圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計，精密設(shè)計，氣密性良好;

　　3.自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計，箱內(nèi)有大于常壓時測

　　試們會被反壓保護(hù);

　　4.型packing，箱內(nèi)壓力愈小時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式*不

　　同，可延長packing壽命;

　　5.實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣（partical<1micorn）。以

　　確保箱內(nèi)之純凈度;

　　6.臨界點LIMIT方式自動安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。

　　7.箱體材質(zhì):

　　1）外箱材質(zhì):SUS304不銹鋼板或*冷軋板粉體烤漆.（電腦白色）

　　2）內(nèi)箱材質(zhì):SUS304不銹鋼板.

　　3）保溫材質(zhì):高密度聚氨酯.

　　冷熱沖擊檢測箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：

　　1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件.

　　2.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件.

　　3.GB/T2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則》.

　　4.GB/T2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》.

　　5.GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》.

　　6.GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》.

　　7.GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗.

　　8.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序.

　　恒溫恒濕箱 冷熱沖擊試驗箱 氙燈老化箱 耐氣候試驗箱 紫外光老化試驗箱 高低溫低氣壓測試設(shè)備