LED高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品說(shuō)明:  

    高低溫試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。  

LED高低溫試驗(yàn)箱型號(hào)規(guī)格:  

1.型號(hào):TH-80  

內(nèi)箱尺寸:（寬*高*深mm）400×500×400  

2.型號(hào):TH-150  

內(nèi)箱尺寸:（寬*高*深mm）500×600×500  

外箱尺寸:（寬*高*深mm）1070×1450×1070  

3.型號(hào):TH-225  

內(nèi)箱尺寸:（寬*高*深mm）500×750×600  

外箱尺寸:（寬*高*深mm）1070×1610×1180

主要技術(shù)指標(biāo)：

1.高溫區(qū)溫度范圍：+60℃— +200℃

2.預(yù)熱上限：200℃

3.升溫時(shí)間：室溫—+200℃，≤60min

4.低溫區(qū)溫度調(diào)節(jié)范圍：-70℃— -10℃

5.降溫時(shí)間：室溫—-70℃，≤60min

LED高低溫試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

　GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》

　　MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》

　　GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》

　　GJB4.3-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)低溫試驗(yàn)》

　　GJB4.4-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)低溫貯存試驗(yàn)》

　　GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.27低溫試驗(yàn)

　　GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》

　　SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.4低溫負(fù)荷試驗(yàn)

　　SJ/T10325-92《汽車收放》

主要相關(guān)關(guān)鍵字：LED高低溫試驗(yàn)箱 電子五金件高低溫低氣壓試驗(yàn)機(jī) UL高低溫低氣壓試驗(yàn)室  高低溫低氣壓試驗(yàn)機(jī)地區(qū)