ASLI半導體高低溫測試設備（熊s）全部功能采用計算機控制，系自主開發的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態下，  可以臨時更改此程序段的數值，可以在屏幕上設置時間的參數，使制冷、加熱、提藍傳送切換，按設定值自動進行。

    冷箱、熱箱獨立控制，箱門互相獨立，擴大試驗箱的使用范圍(一箱三用)。產品保溫效果可以得到充分保證。試驗箱門與循環風機，提藍傳動等互鎖，保護操作者的安全，一旦打開箱門，循環風機和提藍傳動的電源會被自動切斷。在箱有標準引線孔管，方便用戶向箱內引入傳感器線，檢測電纜等類型引線。  

半導體高低溫測試設備性能指標： .lrcjy。。

1、溫度范圍:A:-20℃～200℃B:-40℃～200℃C:-60℃～200℃  

2、溫度波動:高溫室及低溫室均≤±2℃  

3、溫度波動:≤±0、5℃(恒溫時)  

4、樣品承重:(WDCJ-162)20KG;(WDCJ-340)30KG;(WDCJ-500)50KG;(WDCJ-010)60KG  

5、低溫區、高溫區轉換時間小于等于15秒。  

6、溫度恢復時間小于等于5分鐘。  

半導體高低溫測試設備運行控制系統： .lrcjsyx。。

1、控制器:采用進口LED數顯(P、I、D+S、S、R、)微電腦集成控制器  

2、精度范圍:設定精度：溫度±0、1℃，指示精度：溫度±0、1℃，解析度：±0、1℃  

3、制冷系統:進口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機組，原裝法國“泰康"全封閉風冷復迭壓縮制冷方式  

4、循環系統:耐溫低噪音空調型電機，多葉式離心風輪  

5、溫度轉換時間:從低溫區到高溫區或從高溫區到低溫區≤15S  

6、溫度恢復時間:≤5min(與溫度恢復條件有關，既冷卻水溫、溫差、恒溫時間、樣品重量有關)溫度沖擊方法:垂直兩箱法/垂直三箱法(兩箱式冷熱沖擊試驗箱/三箱式冷熱沖擊試驗箱)

半導體高低溫測試設備執行與滿足標準： 

1、GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件；  

2、GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術條件；  

3、GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件；  

4、GB/T2423、50-1999恒定濕熱試驗Ca；  

5、GB/T2423、4-93（MIL-STD810）方法507、2程序3；  

6、GB/T2423、4-2008交變濕熱循環試驗；  

7、GB/T2423、34-2005溫濕度組合循環試驗。

半導體高低溫測試設備產品用途： 

    半導體高低溫測試設備又名高低溫循環試驗箱適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。高低溫循環試驗箱是目前電子，儀器，儀表，化工，塑膠，電池，LED等行業，使用的較為廣泛的一款高低溫沖擊設備。選擇TS冷熱沖擊試驗箱，就選艾思荔科技。