老化試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

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老化試驗(yàn)箱型號(hào)與參數(shù)

型號(hào)          ㎜ 工作尺寸           外型尺寸              

TS－100     450×450×500        1150×900×1650.

TS－225     500×600×750        1200×1100×1900            

TS－500     700×800×900        1350×1280×2200

TS－800     800×1000×1000      1450×1480×2300

TS－1000    1000×1000×1000      1650×1480×2300

老化試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo): 

1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～ 150℃

2 、濕度范圍：30%～98%RH

3 、溫度波動(dòng)度：±0.5℃

4 、溫度偏差：≤2℃

5 、濕度偏差： 2-3 %RH 

6 、升降溫速率：0.7～1℃/min

更多模擬環(huán)境測(cè)試設(shè)備請(qǐng)登陸：http://.ybzhan./st45714/erlist_257986.html      .gdwcjx.