西青自由跌落主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。該試驗設備主要用于對產品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

西青自由跌落：  .gdwcjx. 

GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件

GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件

GB/T2423.50-1999《電工電子產品環境試驗2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗》  

GB/T2423.10-2008《電工電子產品環境試驗2部分：試驗方法試驗Fc和導則：振動（正弦）》  

GB/T2423.56-2006《電工電子產品環境試驗2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動（數字控制）和導則》  

GB/T2423.58-2008《電工電子產品環境試驗2部分:試驗方法試驗Fi:振動混合模式》  

GB/T2423.22-2002《電工電子產品環境試驗2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》  

GB/T2423.34-2005《電工電子產品環境試驗2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環試驗》  

GB/T2423.8-1995《電工電子產品環境試驗2部分:試驗方法試驗Ed:自由跌落》  

GB/T2423.5-1995《電工電子產品環境試驗2部分:試驗方法試驗Ea和導則:沖擊》  

GB/T2423.6-1995《電工電子產品環境試驗2部分:試驗方法試驗Eb和導則:碰撞》  

GB/T2423.7-1995《電工電子產品環境試驗2部分:試驗方法試驗Ec和導則:傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品)》  

GB/T2423.37-2006《電工電子產品環境試驗2部分：試驗方法試驗L：沙塵試驗》  

GB/T2423.17-2008《電工電子產品環境試驗2部分:試驗方法試驗Ka：鹽霧》  

GB/T2423.38-2008《電工電子產品環境試驗2部分：試驗方法試驗R：水試驗方法和導則》  

GJB150.4A-2009《軍用裝備實驗室環境試驗方法4部分：低溫試驗》 GB/T5170.2-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備

GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規程 試驗B:高溫試驗方法

GB2424.1-89 電工電子產品基本環境試驗規程 高溫低溫試驗導則

GB/T2423.1-2008《電工電子產品環境試驗2部分：試驗方法試驗A：低溫》  

GB/T2423.2-2008《電工電子產品環境試驗2部分：試驗方法試驗B：高溫》  

GB/T2423.3-2006《電工電子產品環境試驗2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗》  

GB/T2423.4-2008《電工電子產品環境試驗2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環）》  

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