HE-ZQ-5417連接器蒸氣老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。
【詳細介紹】HE-ZQ-5417連接器蒸氣老化試驗箱
HE-ZQ-5417連接器蒸氣老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。微電腦溫度控制器、LED數字顯示，PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器（PT-100），分辨率0.1℃，全自動安全保護裝置。
【技術規格參數】
- 規格型號：HE-ZQ-5417
- 內部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm；
- 外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm；
- 內外箱體材質：SUS304#優質不銹鋼板；
- 保溫層：PV發泡膠
- 升溫時間:大約40分鐘；控制功能:PID+SSR,數字式顯示；
- 蒸氣溫度: 97℃；
- 計時功能：1～9999H/M/S，附時到報警功能，時間到達后切斷電源；
- 水位控制：低水位報警功能；
- 電源： AC 220V±10% 50Hz 1.0KW
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