安柏來科學儀器（上海）有限公司
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Plasma Emission Messurement System， 用于主要的汽車燈以及CD生產商進行有機膜厚測試 。
等離子體發射測量
在紫外線...近紅外線范圍可同時觀察到等離子發射
低壓等離子沉積技術是一個客觀的連續不斷的過程，如PVD（物理氣象沉積）是今天真正的問題之一。除了等離子體發射光的表觀檢查，有時也使用質譜技術。但是質譜技術既不方便操作，其結果也不容易理解。與此相比，使用OES（發射光譜）和光纖耦合TranSpec光譜儀的有點是顯而易見的。
技術特征
在200...1000nm光譜范圍內可同時測量
可檢測非常底的發射信號
可連接到幾乎每個真空室
無需維護
舒適和易于使用的PEM-ProVis專業版軟件
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