詳細摘要： 大型二次離子質譜 IMS 1280-HR?針對地質領域和環境科學分析專門而設計、注重原位分析?具有超高的靈敏度 ?U-Pb地質學定年、穩定同位素分析、痕量元素以...
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2018-05-15 在線留言深圳賽普思科技有限公司
深圳賽普思科技有限公司
詳細摘要： 大型二次離子質譜 IMS 1280-HR?針對地質領域和環境科學分析專門而設計、注重原位分析?具有超高的靈敏度 ?U-Pb地質學定年、穩定同位素分析、痕量元素以...
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詳細摘要： 高分辨率二次離子質譜NanoSIMS 50L1、專門針對同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針2、具有*的橫向分辨率，痕量元素和同位素高靈敏度- 高空間...
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詳細摘要： 二次離子質譜IMS 7f1、眾多獨立分析實驗室的主力軍2、通用磁扇區二次離子質譜儀：比飛行時間（TOF）SIMS要快，比四級桿 SIMS質量分辨率要高3、高靈敏...
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詳細摘要： 三維原子探針顯微術（3DAP），也稱為原子探針斷層分析術（APT），是一種具有原子級空間分辨率的測量和分析方法，它可以對不同元素的原子逐個進行分析，并給出納米空...
產品型號：LEAP4000所在地：深圳市更新時間：2018-05-15 在線留言
詳細摘要： 透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。
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詳細摘要： 透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。
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詳細摘要： 殘余應力是消除外力或不均勻的溫度場等作用后仍留在材料內的自相平衡的內應力。機械加工和強化工藝都能引起殘余應力。X射線衍射殘余應力分析儀是通過XRD測量晶體材料衍...
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2018-05-15 在線留言
詳細摘要： 聲學顯微鏡，學名是：掃描聲學顯微鏡Scanning Acoustic Microscope，簡稱SAM。它是基于聲波脈沖反射和透射原理工作的，只要聲波信號在樣品...
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詳細摘要： 電子顯微鏡（electron microscope）是利用電子與物質作用所產生之訊號來監定微區域晶體結構，微細組織，化學成份，化學鍵結和電子分布情況的電子光學裝...
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2018-05-15 在線留言
詳細摘要： ＸＲＦ－ＸＲＤ聯用儀是元素分析和結構分析的技術融合。ＸＲＦ是進行元素快速檢測分析的有效手段，通過Ｘ射線轟擊原子層外的電子使得電子在不同電子層躍遷，電子躍遷時會釋...
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詳細摘要： ＸＲＤ（Ｘ ｒａｙ Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ）是晶體物質結構分析的基本和*手段，自然界中的晶體物質都具有自己特定的且*的結構，我們俗稱晶體的指紋譜；ＸＲＤ使用Ｘ射...
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詳細摘要： ＲＡＭＡＮ是使用拉曼效應進行物質分析的。光照射到物質上發生彈性散射和非彈性散射. 彈性散射的散射光是與激發光波長相同的成分.，此為瑞利效應；非彈性散射的散射光有...
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詳細摘要： ＬＩＢＳ（Laser-Induced Breakdown Spectroscopy）是元素分析的前沿技術，通過使用高能量的聚焦脈沖激光束照射物質表面，使得照射點...
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2018-05-15 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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