詳細摘要: 透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光,用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言行業(yè)產(chǎn)品
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詳細摘要: 透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光,用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言詳細摘要: 透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光,用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言詳細摘要: 殘余應(yīng)力是消除外力或不均勻的溫度場等作用后仍留在材料內(nèi)的自相平衡的內(nèi)應(yīng)力。機械加工和強化工藝都能引起殘余應(yīng)力。X射線衍射殘余應(yīng)力分析儀是通過XRD測量晶體材料衍...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言詳細摘要: 聲學顯微鏡,學名是:掃描聲學顯微鏡Scanning Acoustic Microscope,簡稱SAM。它是基于聲波脈沖反射和透射原理工作的,只要聲波信號在樣品...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言詳細摘要: 電子顯微鏡(electron microscope)是利用電子與物質(zhì)作用所產(chǎn)生之訊號來監(jiān)定微區(qū)域晶體結(jié)構(gòu),微細組織,化學成份,化學鍵結(jié)和電子分布情況的電子光學裝...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言詳細摘要: XRF-XRD聯(lián)用儀是元素分析和結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)融合。XRF是進行元素快速檢測分析的有效手段,通過X射線轟擊原子層外的電子使得電子在不同電子層躍遷,電子躍遷時會釋...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言詳細摘要: XRD(X?。颍幔。模椋妫妫颍幔悖簦椋铮睿┦蔷w物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的基本和*手段,自然界中的晶體物質(zhì)都具有自己特定的且*的結(jié)構(gòu),我們俗稱晶體的指紋譜;XRD使用X射...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言詳細摘要: RAMAN是使用拉曼效應(yīng)進行物質(zhì)分析的。光照射到物質(zhì)上發(fā)生彈性散射和非彈性散射. 彈性散射的散射光是與激發(fā)光波長相同的成分.,此為瑞利效應(yīng);非彈性散射的散射光有...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言詳細摘要: LIBS(Laser-Induced Breakdown Spectroscopy)是元素分析的前沿技術(shù),通過使用高能量的聚焦脈沖激光束照射物質(zhì)表面,使得照射點...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2018-05-15 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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