TSDC-400W新款熱刺激電流測量儀

關鍵詞：熱刺激電流，電壓，TSDC,TSD

一、設備概述：

TSDC-400W新款熱刺激電流測量儀主要適用于在不同溫度下測試材料電阻的試驗測量系統，主要測試材料的電阻溫度變化關系用于測量聚合物的分子運動現象與極化電流的關系，還可以用來測試熱電常數和介電常數。符合JIS-K7131測試標準。，是研究材料內部空間電荷受激脫阱后的遷移以及衰減規律、偶極電荷的松弛變化規律、各種電荷之間的相互作用等的重要工具。其在絕緣材料的老化以及擊穿研究、半導體光電材料及其元器件的開發、駐極體材料的研究等領域中得到了廣泛的應用。儀器測試流程自動化實現和完成，并可以保存和導出試驗數據。

二、應用

材料特征測試

半導體、納米材料、聚合物材料、介質材料、電化學材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機材料等

電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測試

電容器、電阻器、二極管、晶體管、傳感器、TFT和CNT等類型、光電器件、納米器件、太陽能電池、開關、繼電器等

電子/非電子系統

離子束、電子束、傳感系統、粒子測量、嵌入式精密儀器等

半導體和其它器件I-V特性測量

體電阻/表面電阻率測量

三、產品主要特點：

1、在同一空間內可有 2 條通道

2、最寬的電壓和電流動態范圍

3、高度準確的 100 μs 脈沖可擴展直流生產測試能力

4、嵌入式腳本提供的生產吞吐量

5、消除與 PC 之間耗時的總線通信

6、高級數據處理和流量控制

7、通用型探頭/處理程序控制

8、系統性能，無主機

9、TSP-Link® 技術支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時所有通道同時獨立受控。

10、支持 <500 ns 通道間同步

11、可達 32 條或 64 條獨立 SMU 通道

12、隨著測試要求變化輕松重新配置

四、技術參數：

1、最小電流分辨率：20pA

2、溫度測量范圍：-160°C-600°C

3、升溫速率：0.5℃--10℃/min

4、電壓量程（DC）：10V/50V/100V/250V/500V/1000V

5、樣品架：自動升降

6、加熱方式：電熱絲

7、制冷方式：液氮

8、導熱制冷介質：二甲基硅油（粘度2CS,容量10L）

9、數據采集：軟件控制，自動采集，實時動態顯示曲線

10、數據保存：可導出EXEXL數據報表，生成電子報告

11、實驗流程：參數設定后，整個實驗過程無需人工干預，自動完成實驗

12、測量電極直徑：10MM

13、設備重量：100KG

14、加熱功率：1500W

五、軟件介紹：

起始溫度：試驗開始溫度，需要設定，到達此溫度后，開始做試驗

截止溫度：試驗結束溫度，需要設定，到此溫度后，自動結束

變溫速率：設定升溫速率

保持時間：到達設定的溫度后，需要保持的時間

坐標軸切換：以溫度/時間為坐標軸，進行切換驅動電壓：選擇試驗電壓

上升：電極支架上升鍵

下降：電極支架下降鍵

允許外部控制：手動在設備上進行上升和下降，需要在軟件上進行授權