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當前位置：北京中慧天誠科技有限公司>>電阻/電磁/紙張橡塑檢測儀>>薄膜測厚儀>> WBLE-200J電磁式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLE-200J
電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLZ-370
高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLH-200J
| 電磁式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLE-200J | 貨號：ZH6918 |
| 產品簡介 本儀器采用了磁性測厚方法，可損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）。 內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。 測定方法:電磁式 測定對象:磁性金屬上非磁性涂鍍層 測定范圍:0～1500um或0～60.0mils 測定精度:<15um±0.3um >15um±2% 分辨率:<100um 0.1um >100um 1um 界限設定:可設定上/下限數值 測試單位:公/英制互換 顯示方式:LCD數顯 操作面板:密封防水按鍵 附屬品:鐵基體/校正標準片/電池/皮套/說明書 電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個 體積:80(W)×80(D)×30(H) 重量:1100g |  |
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